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件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14870. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

 アイテム
資料番号: O-14870
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14871. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

 アイテム
資料番号: O-14871
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14872. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

 アイテム
資料番号: O-14872
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C.

日付: 1985. 11. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14873. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

 アイテム
資料番号: O-14873
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C.

日付: 1985. 11. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14874. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

 アイテム
資料番号: O-14874
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1985. 11. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14875. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

 アイテム
資料番号: O-14875
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C.

日付: 1985. 11. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14876. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

 アイテム
資料番号: O-14876
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14877. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

 アイテム
資料番号: O-14877
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: 1985. 11. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14878. Ni, MK-38, RTNS-II, ED., 1985. 11. 26.

 アイテム
資料番号: O-14878
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 11. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14879. Ni, MK-38, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14879
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14880. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14880
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14881. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14881
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14882. Ni, MK-38, RTNS-II, ED., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14882
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14883. Ni, MK-38, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14883
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14884. Ni, MK-38, RTNS-II, ED., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14884
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14885. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14885
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14886. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14886
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14887. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14887
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)同一視野.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14888. Ni, MK-38, RTNS-II, ED., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14888
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)同一視野.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14889. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14889
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)同一視野.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14890. Ni, MK-31, Cryo-traansfer, DF, 52K., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14890
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (照射条件)Cryo-traansfer. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A. 日付元記載「1985. 11. 26日」.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14891. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14891
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14892. Ni, MK-31, SD., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14892
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)SD.

(備考)C.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14893. Ni, MK-31, ED., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14893
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14894. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14894
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)D.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14895. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14895
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A 3.26mV(～100℃）5min.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14896. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14896
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14897. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14897
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14898. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14898
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)D.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14899. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14899
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A .

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14900. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14900
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)Aの下.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14901. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14901
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14902. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14902
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)Bの下.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14903. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14903
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14904. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14904
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)Cの下.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14905. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14905
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)D.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14906. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14906
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)E　fresh area.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14907. Ni, MK-31, ED., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14907
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14908. Ni, MK-31, BF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14908
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)110.

(備考)A.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14909. Ni, MK-31, BF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14909
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)110.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14910. Ni, MK-31, BF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14910
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)110.

(備考)C.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14911. Ni, MK-31, ED., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14911
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14912. Ni, MK-31, BF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14912
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)A.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14913. Ni, MK-31, BF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14913
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14914. Ni, MK-31, BF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14914
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)C.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14915. Ni, MK-31, BF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14915
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14916. Ni, MK-31, ED., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14916
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14917. Ni, MK-31, DF., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14917
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)HoleNo. H13-No.11 0.75mV(20℃）A.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14918. Ni, MK-31, DF., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14918
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14919. Ni, MK-31, DF., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14919
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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