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11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17120. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, BF, 260K., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17120
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)260K.

(備考)just.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17121. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF, 260K., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17121
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)260K.

(備考)over.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17122. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF, 260K., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17122
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)260K.

(備考)under.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17123. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, BF, 260K., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17123
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)260K.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17124. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, BF, 260K., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17124
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)260K. (反射ベクトルg)以上 100.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17125. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17125
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)near 110. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17126. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17126
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17127. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, ED., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17127
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17128. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17128
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17129. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17129
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17130. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17130
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17131. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, ED., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17131
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17133. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17133
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17134. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17134
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17135. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17135
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17136. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17136
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17137. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17137
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17138. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17138
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17139. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17139
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17140. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17140
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17141. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17141
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17142. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17142
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17143. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17143
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17144. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17144
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17145. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17145
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17146. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17146
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17147. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17147
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17148. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17148
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17149. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17149
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17150. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17150
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17151. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17151
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17152. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17152
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17153. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17153
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17154. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17154
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17155. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17155
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17156. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17156
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17157. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17157
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17158. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17158
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17159. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17159
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17160. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17160
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17161. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17161
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17162. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17162
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

(備考)スチグマ変える.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17163. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17163
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

(備考)スチグマ変える.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17164. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17164
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17165. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M, ED., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17165
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17166. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17166
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17167. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17167
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17168. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17168
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17169. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17169
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17170. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17170
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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