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件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17171. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17171
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17172. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17172
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17173. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M, ED., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17173
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17174. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17174
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17175. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17175
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17176. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17176
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17177. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M, ED., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17177
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17178. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17178
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17179. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17179
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17180. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17180
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17181. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17181
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17182. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17182
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17183. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17183
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17184. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17184
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17185. Ni, A010, RTNS-II, 150℃, M, ED., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17185
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A010. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17186. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17186
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17187. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17187
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17188. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17188
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17189. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17189
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17190. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17190
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17191. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17191
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17192. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17192
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17193. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17193
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17194. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17194
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17195. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17195
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17196. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17196
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17197. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17197
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)X.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17198. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17198
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17199. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17199
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17200. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17200
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17201. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17201
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17202. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17202
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17203. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17203
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17204. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W, ED., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17204
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17205. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17205
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17206. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17206
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17207. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17207
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17208. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17208
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17209. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

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資料番号: O-17209
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17210. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W, ED., [1986年1月29日.]

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資料番号: O-17210
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17211. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17211
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17263. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 52K., [1986年1月29日.]

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資料番号: O-17263
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17264. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 100K., [1986年1月29日.]

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資料番号: O-17264
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17265. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17265
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17266. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17266
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17267. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 52K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17267
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17268. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 52K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17268
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17269. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 52K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17269
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17270. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17270
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17271. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17271
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)just.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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