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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19142. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19142
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19143. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19143
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)あまりe-していない所.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19144. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19144
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19145. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19145
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)以下200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19146. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19146
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19147. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19147
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19148. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19148
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19149. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19149
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)かなりe-しているところ.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19150. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19150
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α2　21.5、30.0（140）赤.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19151. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19151
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α2.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19152. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19152
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α2.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19153. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19153
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α2.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19154. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, 52K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19154
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β2　13.2、2.4（140）赤.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19155. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19155
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β2.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19156. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19156
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β2　just.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19157. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19157
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β2 2 step over.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19158. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19158
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β2 2 step under.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19159. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19159
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β2.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19160. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF, 52K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19160
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　3.5、 10(160)赤.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19161. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19161
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19162. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19162
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19163. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19163
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19164. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19164
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19165. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19165
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19166. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19166
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19167. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19167
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　＋4.5、22（220）赤.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19168. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19168
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19169. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19169
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19170. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19170
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19171. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19171
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19172. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19172
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19173. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19173
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19174. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF, 11K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19174
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19175. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, BF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19175
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)タケノコ.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19176. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

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資料番号: O-19176
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19178. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 52K., [1986年2月12日.]

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資料番号: O-19178
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A α　-6.0、1.0（160）赤.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19179. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 52K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19179
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19180. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 100K., [1986年2月12日.]

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資料番号: O-19180
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19181. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19181
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19182. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 100K., [1986年2月12日.]

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資料番号: O-19182
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19183. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 100K., [1986年2月12日.]

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資料番号: O-19183
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19184. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 52K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19184
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A β　　-14.5、2（280）黒.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19185. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19185
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19186. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19186
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19187. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19187
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)以後111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B just.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19188. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19188
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B over 2s.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19189. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19189
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B under 2s.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19190. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19190
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)ｓ＞0.

(備考)fresh area -42、20黒.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19191. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19191
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19192. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19192
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)fresh area.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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