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件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21264. Ni, A093, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21264
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A093. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21265. Ni, A093, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21265
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A093. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21266. Ni, A093, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21266
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A093. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)fringe.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21267. Ni, A093, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 52K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21267
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A093. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21268. Ni, A093, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21268
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A093. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)just.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21269. Ni, A093, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21269
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A093. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)over＋3.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21270. Ni, A093, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21270
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A093. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)under-3.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21271. Ni, A093, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21271
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A093. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)just.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21272. Ni, A093, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21272
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A093. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)over＋3.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21273. Ni, A093, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21273
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A093. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)under-3.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21274. Ni, A093, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21274
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A093. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)fringe.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21275. Ni, A093, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21275
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A093. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)just.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21276. Ni, A093, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21276
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A093. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)over＋5 ミス200.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21277. Ni, A093, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21277
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A093. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)under-5.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21278. Ni, A093, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21278
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A093. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)just.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21279. Ni, A093, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21279
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A093. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)over＋3.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21280. Ni, A093, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21280
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A093. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)under-3.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21281. Ni, A093, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 52K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21281
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A093. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21282. Ni, A093, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21282
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A093. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21283. Ni, A093, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21283
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A093. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21284. Ni, A116, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21284
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21285. Ni, A116, RTNS-II, 290℃, M, DF, 52K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21285
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21286. Ni, A116, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21286
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21287. Ni, A116, RTNS-II, 290℃, M, DF, 52K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21287
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21288. Ni, A116, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21288
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21289. Ni, A116, RTNS-II, 290℃, M, DF, 52K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21289
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21290. Ni, A116, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21290
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21291. Ni, A116, RTNS-II, 290℃, M, DF, 52K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21291
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21292. Ni, A116, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21292
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21293. Ni, A116, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21293
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21294. Ni, A116, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21294
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)fringe.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21295. Ni, A116, RTNS-II, 290℃, M, DF, 52K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21295
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)fringe.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21296. Ni, A116, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21296
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21345. Ni, A120, RTNS-II, 290℃, WW, DF, 100K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21345
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A120. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D3.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21346. Ni, A120, RTNS-II, 290℃, WW, DF, 100K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21346
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A120. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21347. Ni, A120, RTNS-II, 290℃, WW, BF, 100K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21347
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A120. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21348. Ni, A120, RTNS-II, 290℃, WW, DF, 100K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21348
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A120. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)fringe.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21349. Ni, A120, RTNS-II, 290℃, WW, DF, 52K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21349
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A120. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21350. Ni, A120, RTNS-II, 290℃, WW, DF, 52K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21350
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A120. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21351. Ni, A120, RTNS-II, 290℃, WW, DF, 52K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21351
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A120. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21352. Ni, A120, RTNS-II, 290℃, WW, ED., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21352
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A120. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21361. Ni, A017, RTNS-II, 90℃, WW, DF, 100K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21361
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A017. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)不良.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21362. Ni, A017, RTNS-II, 90℃, WW, DF, 100K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21362
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A017. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21363. Ni, A017, RTNS-II, 90℃, WW, DF, 100K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21363
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A017. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21364. Ni, A017, RTNS-II, 90℃, WW, DF, 100K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21364
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A017. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21365. Ni, A017, RTNS-II, 90℃, WW, DF, 100K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21365
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A017. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21366. Ni, A017, RTNS-II, 90℃, WW, DF, 100K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21366
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A017. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21367. Ni, A017, RTNS-II, 90℃, WW, ED, 100K., [1986年3月11日.]

 アイテム
資料番号: O-21367
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A017. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年3月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21820. Ni, α980, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21820
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α980. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)0(＋-)　1（120）.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21821. Ni, α980, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21821
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α980. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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