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件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21922. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21922
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21923. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21923
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21924. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21924
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21925. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21925
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21926. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21926
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21927. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21927
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21928. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21928
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21929. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW, ED., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21929
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21930. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21930
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21931. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21931
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)just .

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21932. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21932
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)→2 .

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21933. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21933
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)→4.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21934. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21934
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)←2.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21935. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21935
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)←4.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21936. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21936
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)just 　下15（＋）赤6（240）.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21937. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21937
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0(3).

(備考)→2 fine大　 下15（＋）赤6（240）.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21938. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21938
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)→4　　　　　下15（＋）赤6（240）.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21939. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21939
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)←2　　　　　下15（＋）赤6（240）.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21940. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21940
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)←4　　　　　下15（＋）赤6（240）.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21941. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21941
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)just .

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21942. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21942
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)→2 .

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21943. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21943
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)→4.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21944. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21944
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)←2.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21945. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21945
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)←4.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21946. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21946
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21947. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21947
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21948. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21948
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21949. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21949
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21950. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21950
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21951. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21951
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21952. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS, ED., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21952
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21953. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS, ED., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21953
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)2・1/2のところ.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21954. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21954
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)111面ポール.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21955. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21955
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)（00）のところ.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23851. Ni, α976, RTNS-II, RT, M, DF, 100K., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23851
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)α976. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　　失敗.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23852. Ni, α976, RTNS-II, RT, M, DF, 100K., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23852
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α976. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　　　　　失敗.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23853. Ni, α976, RTNS-II, RT, M, ED., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23853
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α976. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　　　　　失敗.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23854. Ni, α976, RTNS-II, RT, M, DF, 100K., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23854
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α976. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

(備考)①　　　　　失敗.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23855. Ni, α976, RTNS-II, RT, M, DF, 100K., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23855
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α976. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)①　　　　　失敗.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23856. Ni, α976, RTNS-II, RT, M, ED., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23856
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α976. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)①　　　　　失敗.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28100. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28100
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)1 α＋19.5.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28101. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28101
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28102. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28102
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)2.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28103. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28103
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)3.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28104. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28104
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)4.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28105. Ni, B269, 200℃, SSS, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28105
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28106. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28106
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β＋26.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28107. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28107
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)1.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28108. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28108
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)2.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28109. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28109
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)3.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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