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件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14952. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14952
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14953. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14953
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14954. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14954
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14955. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14955
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14956. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14956
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14957. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14957
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14958. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14958
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14959. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14959
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14960. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14960
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14961. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14961
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)↓　だんだん勾配きつくなる.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14962. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14962
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)↓　フリンジの幅狭くなる.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14963. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14963
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14964. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14964
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14965. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14965
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14966. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14966
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14967. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14967
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14968. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14968
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14969. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14969
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14970. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14970
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B ごみ.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14971. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14971
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14972. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14972
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14973. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14973
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14974. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14974
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15016. Ni, A955, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15016
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A955. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)三つ外し.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15017. Ni, A955, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15017
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A955. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15018. Ni, A955, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15018
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A955. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15019. Ni, A955, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15019
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A955. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15020. Ni, A955, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15020
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A955. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15021. Ni, A955, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15021
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A955. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15022. Ni, A955, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15022
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A955. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15023. Ni, A955, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15023
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A955. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15024. Ni, A955, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 100K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-15024
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A955. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15025. Ni, A955, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 100K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-15025
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A955. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15026. Ni, A955, RTNS-IIFin, RT, M, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-15026
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A955. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15027. Ni, A955, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 50K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-15027
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A955. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15028. Ni, A955, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 50K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-15028
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A955. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15029. Ni, A955, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15029
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A955. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15030. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15030
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15031. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15031
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15032. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15032
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15033. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15033
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15034. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15034
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15035. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15035
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15036. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15036
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15037. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15037
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15038. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15038
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15039. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15039
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15040. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15040
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15041. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15041
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15042. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15042
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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