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件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35769. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35769
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35770. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35770
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35771. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35771
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35772. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35772
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)となりのgrain.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35773. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35773
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35774. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35774
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35775. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35775
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35776. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35776
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35777. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 31K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35777
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35778. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35778
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35779. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35779
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)隣のgrain　大傾斜.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35858. Ni, JOYO, 1, BF, 52K., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35858
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0s＞0.

(備考)A 　α　-21.8　黒4（0）　ボイドあり. 日付元記載「1986. 12. 5.(Fri).」.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35859. Ni, JOYO, 1, BF, 52K., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35859
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　α.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35860. Ni, JOYO, 1, BF, 52K., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35860
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　α.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35861. Ni, JOYO, 1., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35861
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1.

(備考)A and/or B　　α.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35862. Ni, JOYO, 1., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35862
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1.

(備考)A and/or B　　α.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35863. Ni, JOYO, 1, DF, 52K., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35863
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　　　α.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35864. Ni, JOYO, 1, DF, 52K., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35864
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　　α.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35865. Ni, JOYO, 1, DF, 52K., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35865
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　　α.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35866. Ni, JOYO, 1, ED., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35866
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35867. Ni, JOYO, 1, BF, 52K., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35867
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　　α.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35868. Ni, JOYO, 1, BF, 52K., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35868
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C　　α.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35869. Ni, JOYO, 1, BF, 52K., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35869
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　　α.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35870. Ni, JOYO, 1, BF., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35870
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　β　　14.6　黒2.5（220）.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35871. Ni, JOYO, 1, BF., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35871
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　β.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35872. Ni, JOYO, 1, BF., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35872
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C β.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35873. Ni, JOYO, 1, BF., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35873
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)A β.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35874. Ni, JOYO, 1, BF., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35874
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)B　β.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35875. Ni, JOYO, 1, BF., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35875
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)C　β.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35876. Ni, JOYO, 1, ED., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35876
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35877. Ni, JOYO, 1, ED., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35877
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35878. Ni, JOYO, 1, BF, 21K., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35878
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Disl.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35879. Ni, JOYO, 1, BF, 21K., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35879
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB＋disl.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35880. Ni, JOYO, 1, BF, 21K., 1986. 12. 5.(Fri).

 アイテム
資料番号: O-35880
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB＋disl.

日付: 1986. 12. 5.(Fri).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35881. Ni, JOYO, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35881
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35882. Ni, JOYO, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35882
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35883. Ni, JOYO, BF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35883
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35884. Ni, JOYO, 1, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35884
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A α　　-2.4　黒1（120）.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35885. Ni, JOYO, 1, DF, ↓., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35885
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)↓. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35886. Ni, JOYO, 1, BF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35886
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35887. Ni, JOYO, 1, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35887
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35888. Ni, JOYO, 1, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35888
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　β　　-11.0　黒2（200）.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35889. Ni, JOYO, 1, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35889
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35890. Ni, JOYO, 1, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35890
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35891. Ni, JOYO, 2, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35891
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Void入り　A　α　-29.6　黒12（200）.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35892. Ni, JOYO, 2, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35892
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)2. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35893. Ni, JOYO, 2, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35893
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35894. Ni, JOYO, 2, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35894
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)2. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35895. Ni, JOYO, 2, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35895
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)2. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35896. Ni, JOYO, 2, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35896
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)2. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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