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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35947. Ni, A094, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35947
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35948. Ni, A094, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35948
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35949. Ni, A094, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35949
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35950. Ni, A094, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35950
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35951. Ni, A094, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35951
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35952. Ni, A094, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35952
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35953. Ni, A094, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35953
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35954. Ni, A094, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-35954
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36120. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36120
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)dislocationたくさん入っている.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36121. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36121
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36122. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36122
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)他のgrain　B.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36123. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36123
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36124. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36124
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36125. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36125
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36126. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36126
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36127. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36127
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36128. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36128
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36129. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36129
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36130. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36130
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36131. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36131
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36132. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36132
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36133. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36133
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36134. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36134
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36135. Ni, A733 木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36135
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A733 木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36136. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36136
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　α　　0.0　赤1.0（200）.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36137. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36137
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36138. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36138
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36139. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36139
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36140. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36140
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36141. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36141
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　β　　-6.0　赤6.0（60）.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36142. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36142
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　β.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36143. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36143
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36144. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36144
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C　α　　　-31.2　赤22（240）　near＜111＞.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36145. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36145
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36146. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36146
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)C　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36147. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36147
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D　α　.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36148. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36148
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)？　E.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36149. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36149
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)E　α’　-26　赤18（280）.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36150. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36150
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)E.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36151. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36151
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)↓.

(備考)E.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36152. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36152
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)E.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36153. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36153
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)E.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36154. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36154
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)E.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36155. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36155
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)E.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36156. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36156
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)E.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36157. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36157
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)E.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36158. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36158
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)E.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36159. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36159
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)E.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36160. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36160
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)E.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36161. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36161
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)E.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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