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件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36162. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36162
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)E.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36163. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36163
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C　　β　23.6　赤12.5（160）.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36164. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36164
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)C.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36165. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36165
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)D.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36166. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36166
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)E　　　β’　22.8　赤10.5（280）.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36167. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36167
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)E.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36168. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36168
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)E.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36169. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36169
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)E.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36170. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF, 31K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36170
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36171. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF, 31K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36171
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36172. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF, 31K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36172
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36173. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF, 31K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36173
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36174. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36174
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36175. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DE, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36175
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36176. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DE, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36176
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36177. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DE, 31K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36177
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)31K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36178. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36178
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36179. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DE, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36179
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36180. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DE, 31K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36180
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)31K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36181. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DE, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36181
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36182. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DE, 31K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36182
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)31K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36183. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36183
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36184. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DE, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36184
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36185. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DE, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36185
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36186. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DE, 31K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36186
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)31K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36187. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DE, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36187
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36188. Ni, A058 Kuramoto , RTNS-II, 150℃, SS, DE, 31K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36188
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A058 Kuramoto . (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)31K.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36361. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36361
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　　α　＋19赤0～3（240）.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36362. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36362
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36363. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36363
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36364. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36364
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36365. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36365
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36366. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36366
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36367. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36367
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36368. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36368
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36369. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36369
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)D　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36370. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36370
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　β　　＋11　赤3（0）.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36371. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36371
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36372. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36372
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　β.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36373. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36373
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D　β.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36374. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36374
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36375. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36375
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36376. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36376
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36377. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36377
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36378. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36378
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36379. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36379
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別のgrain.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36380. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36380
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36381. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36381
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36382. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36382
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36383. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36383
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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