メインコンテンツへスキップ

ニッケル

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36734. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, ED., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36734
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)E　α.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36735. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36735
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C　β　　-6.5黒20（340）.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36736. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF, 52K., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36736
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D　β.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36737. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF, 52K., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36737
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)E　β.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36738. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, ED., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36738
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36739. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36739
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　α　-15赤9～12（220）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36740. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36740
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36741. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36741
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36742. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36742
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36743. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36743
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)E　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36744. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36744
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36745. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36745
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　β　　-9.5赤3～6（340）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36746. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36746
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36747. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36747
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36748. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36748
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36749. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36749
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)E　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36750. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36750
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Aの隣.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36751. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36751
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36752. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36752
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)E　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36753. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36753
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)F　α　　-18赤9.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36754. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36754
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)G　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36755. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36755
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36756. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36756
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)F　β　　　-12赤3.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36757. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36757
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)G　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36758. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36758
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36759. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36759
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)F　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36760. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36760
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)G　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36761. Ni, JOYO, 400℃, 3, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36761
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　α　　＋19黒0～3（120）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36762. Ni, JOYO, 400℃, 3, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36762
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36763. Ni, JOYO, 400℃, 3, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36763
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36764. Ni, JOYO, 400℃, 3, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36764
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36765. Ni, JOYO, 400℃, 3, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36765
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36766. Ni, JOYO, 400℃, 3, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36766
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　β　＋11.5黒0～3（120）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36767. Ni, JOYO, 400℃, 3, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36767
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36768. Ni, JOYO, 400℃, 3, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36768
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36769. Ni, JOYO, 400℃, 3, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36769
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＝0.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36770. Ni, JOYO, 400℃, 3, BF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36770
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36771. Ni, JOYO, 400℃, 3, BF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36771
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射温度)400℃. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A B　　歪み多い試料　この2カ所にとどめる.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36772. Ni, B116, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36772
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　α　-16.5赤9～12（200）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36773. Ni, B116, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36773
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36774. Ni, B116, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36774
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36775. Ni, B116, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36775
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36776. Ni, B116, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36776
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Aの隣　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36777. Ni, B116, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36777
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　β　　-8.5赤3～6（200）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36778. Ni, B116, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36778
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36779. Ni, B116, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36779
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36780. Ni, B116, RTNS-II, 200℃, S., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36780
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36781. Ni, B116, RTNS-II, 200℃, S., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36781
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36782. Ni, B116, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36782
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別のgrain　C　α　＋6赤15～18（180）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36783. Ni, B116, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36783
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ