ニッケル

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15043. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

アイテム

資料番号: L-15043

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15044. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

アイテム

資料番号: L-15044

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15045. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

アイテム

資料番号: L-15045

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15046. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

アイテム

資料番号: L-15046

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16424. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

アイテム

資料番号: L-16424

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)たて型　練習. 日付元記載「1988. 8. 1」.

日付: 1988. 8. 1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16425. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

アイテム

資料番号: L-16425

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: 1988. 8. 1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16426. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

アイテム

資料番号: L-16426

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: 1988. 8. 1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16427. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

アイテム

資料番号: L-16427

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: 1988. 8. 1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16428. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

アイテム

資料番号: L-16428

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: 1988. 8. 1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16429. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

アイテム

資料番号: L-16429

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: 1988. 8. 1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16430. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, ED, 55cm., 1988. 8. 1.

アイテム

資料番号: L-16430

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: 1988. 8. 1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16431. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

アイテム

資料番号: L-16431

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 8. 1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16432. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

アイテム

資料番号: L-16432

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 8. 1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16433. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

アイテム

資料番号: L-16433

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 8. 1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16434. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

アイテム

資料番号: L-16434

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 8. 1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16435. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

アイテム

資料番号: L-16435

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 8. 1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16436. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, ED, 55cm., 1988. 8. 1.

アイテム

資料番号: L-16436

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: 1988. 8. 1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16437. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

アイテム

資料番号: L-16437

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α側.

日付: 1988. 8. 1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16438. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

アイテム

資料番号: L-16438

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1988. 8. 1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16439. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16439

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16440. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16440

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16441. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16441

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16442. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16442

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16443. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16443

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16444. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, ED, 55cm., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16444

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16445. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16445

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16446. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16446

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16447. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16447

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16448. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16448

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16449. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16449

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16450. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, ED, 55cm., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16450

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16451. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16451

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α側.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16452. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16452

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α側.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16453. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16453

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α側.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16454. Ni, A959, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16454

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A959. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)試料研磨不良.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16474. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16474

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16475. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16475

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16476. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16476

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16477. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16477

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16478. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16478

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16479. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16479

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16480. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16480

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16481. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16481

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16482. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16482

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16483. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16483

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16484. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, ED, 55cm., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16484

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16485. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16485

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16486. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16486

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16487. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16487

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16488. Ni, A807, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年8月1日.]

アイテム

資料番号: L-16488

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A807. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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