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件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42153. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42153
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42154. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42154
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42155. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42155
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42156. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42156
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42157. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42157
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42158. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42158
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上10（-）0.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42159. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42159
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42160. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42160
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42161. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42161
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42162. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42162
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42163. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W, ED., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42163
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42164. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42164
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上17.5（-）赤5（320）.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42165. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42165
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42166. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42166
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42167. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42167
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42168. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42168
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42169. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42169
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42170. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42170
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)ED.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42171. Ni, A697　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42171
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A697　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)anneal　　下13.5（＋）赤9（160）.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42172. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42172
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42173. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42173
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42174. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42174
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42175. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42175
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42176. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W, ED., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42176
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42177. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42177
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下9.5（＋）赤13（160）.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42178. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42178
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42179. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42179
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42180. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42180
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42181. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42181
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42182. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42182
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42183. Ni, A926　last, RTNS-II, RT, W, ED., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42183
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A926　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42419. Ni, α084, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42419
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)前のJOYO3とは同じパック.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42420. Ni, α084, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42420
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42421. Ni, α084, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42421
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　-5黒0～3（280）.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42422. Ni, α084, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42422
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A α.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42423. Ni, α084, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42423
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A α.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42424. Ni, α084, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42424
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B α.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42425. Ni, α084, RTNS-II, RT, SS, ED., [1987年6月11日.]

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資料番号: O-42425
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B α.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42426. Ni, α084, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1987年6月11日.]

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資料番号: O-42426
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A β　＋1.5　赤0～3（320）.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42427. Ni, α084, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1987年6月11日.]

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資料番号: O-42427
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A β.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42428. Ni, α084, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1987年6月11日.]

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資料番号: O-42428
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B β.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42429. Ni, α084, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42429
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B β.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42430. Ni, α084, RTNS-II, RT, SS, ED., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42430
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　β.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42431. Ni, α084, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42431
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)sink　dennsity用　100に近い.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42432. Ni, α084, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42432
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42433. Ni, α084, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42433
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42434. Ni, α084, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42434
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42435. Ni, α084, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42435
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42436. Ni, α084, RTNS-II, RT, SS, ED., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42436
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42437. Ni, α084, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42437
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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