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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42438. Ni, α084, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42438
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42513. Ni, α100Kohyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42513
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)繰り返し　　　　ボツ.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42514. Ni, α100Kohyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42514
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　　α　-18赤9～12（340）.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42515. Ni, α100Kohyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42515
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　　α　.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42516. Ni, α100Kohyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42516
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　　α.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42517. Ni, α100Kohyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42517
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　　α.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42518. Ni, α100Kohyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42518
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　　α.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42519. Ni, α100Kohyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42519
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　　α.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42520. Ni, α100Kohyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42520
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　　α.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42521. Ni, α100Kohyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42521
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　　α.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42522. Ni, α100Kohyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42522
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C　　α.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42523. Ni, α100Kohyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42523
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　　α.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42524. Ni, α100Kohyama, RTNS-II, RT, SS, ED., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42524
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)スタート地点.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42525. Ni, α100Kohyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42525
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　　β　-10赤3～6（260）.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42526. Ni, α100Kohyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42526
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　　β.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42527. Ni, α100Kohyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42527
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C　　β.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42528. Ni, α100Kohyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42528
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D　　β.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42708. Ni, Ae906, e-, RT, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42708
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae906. (照射条件)e-. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)NiA906（W)をe-照射RT　A.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42709. Ni, Ae906, e-, RT, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42709
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae906. (照射条件)e-. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　　3つはずし.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42710. Ni, Ae906, e-, RT, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42710
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae906. (照射条件)e-. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42711. Ni, Ae906, e-, RT, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42711
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae906. (照射条件)e-. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42712. Ni, Ae906, e-, RT, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42712
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae906. (照射条件)e-. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42713. Ni, Ae906, e-, RT, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42713
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae906. (照射条件)e-. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42714. Ni, Ae906, e-, RT, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42714
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae906. (照射条件)e-. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42715. Ni, Ae906, e-, RT, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42715
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae906. (照射条件)e-. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42716. Ni, Ae906, e-, RT, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42716
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae906. (照射条件)e-. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42717. Ni, Ae906, e-, RT, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42717
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae906. (照射条件)e-. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42718. Ni, Ae906, e-, RT, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42718
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae906. (照射条件)e-. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　　　2つはずし.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42719. Ni, Ae906, e-, RT, DF, 52K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42719
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae906. (照射条件)e-. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42720. Ni, Ae906, e-, RT, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42720
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae906. (照射条件)e-. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42721. Ni, Ae906, e-, RT, DF, 52K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42721
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae906. (照射条件)e-. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42722. Ni, Ae906, e-, RT, ED., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42722
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae906. (照射条件)e-. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42723. Ni, Ae906, e-, RT, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42723
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae906. (照射条件)e-. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)他のgrain.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42724. Ni, Ae906, e-, RT, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42724
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae906. (照射条件)e-. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42725. Ni, Ae906, e-, RT, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42725
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae906. (照射条件)e-. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42726. Ni, Ae906, e-, RT, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42726
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae906. (照射条件)e-. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42727. Ni, Ae906, e-, RT, ED., [1987年6月11日.]

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資料番号: O-42727
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae906. (照射条件)e-. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42728. Ni, Ae906, e-, RT, DF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42728
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae906. (照射条件)e-. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42779. Ni, A311　kohyama, RTNS-II, RT, S, BF, 53K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42779
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A311　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)53K.

(備考)TN　0.8％引張り　以下傾き5°.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42780. Ni, A311　kohyama, RTNS-II, RT, S, BF, 3.7K., [1987年6月11日.]

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資料番号: O-42780
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A311　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42781. Ni, A311　kohyama, RTNS-II, RT, S, BF, 3.7K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42781
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A311　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42782. Ni, A311　kohyama, RTNS-II, RT, S, BF, 3.7K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42782
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A311　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42783. Ni, A311　kohyama, RTNS-II, RT, S, BF, 3.7K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42783
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A311　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42784. Ni, A311　kohyama, RTNS-II, RT, S, BF, 8K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42784
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A311　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42785. Ni, A311　kohyama, RTNS-II, RT, S, DF, 21K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42785
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A311　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42786. Ni, A311　kohyama, RTNS-II, RT, S, BF, 31K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42786
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A311　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42787. Ni, A311　kohyama, RTNS-II, RT, S, BF, 31K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42787
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A311　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42788. Ni, A311　kohyama, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42788
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A311　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42789. Ni, A310　kohyama, RTNS-II, RT, S, BF, 11K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42789
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A310　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TN　0.4％引張り.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42790. Ni, A310　kohyama, RTNS-II, RT, S, BF, 5.3K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42790
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A310　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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