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件名：ソース: Ku Peek

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43387. Ni, A318　kohyama, RTNS-II, RT, S, BF, 3.7K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43387
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A318　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43388. Ni, A318　kohyama, RTNS-II, RT, S, BF, 5.3K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43388
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A318　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43389. Ni, A318　kohyama, RTNS-II, RT, S, BF, 8.0K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43389
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A318　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8.0K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43390. Ni, A318　kohyama, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43390
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A318　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)下3＋黒2（60）.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43391. Ni, B243, RTNS-II, 200℃, S, BF, 52K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43391
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B243. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)1％変形.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43392. Ni, B243, RTNS-II, 200℃, S, BF, 52K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43392
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B243. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43393. Ni, B243, RTNS-II, 200℃, S, BF, 52K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43393
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B243. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43394. Ni, B243, RTNS-II, 200℃, S, BF, 52K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43394
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B243. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43395. Ni, B243, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43395
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B243. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)上2（-）0.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43396. Ni, A538　kohyama, RTNS-II, RT, W, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43396
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A538　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

(備考)　0.5％引張り.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43397. Ni, A538　kohyama, RTNS-II, RT, W, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43397
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A538　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43398. Ni, A538　kohyama, RTNS-II, RT, W, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43398
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A538　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43399. Ni, A538　kohyama, RTNS-II, RT, W, ED., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43399
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A538　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)上3-　赤3（300）.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43400. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43400
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)　7％引張り（78K).

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43401. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43401
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43402. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, BF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43402
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43403. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43403
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43404. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43404
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43405. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43405
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43406. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43406
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43407. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, BF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43407
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43408. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, ED., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43408
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　上5-赤1（90）.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43409. Ni, A540　kohyama, RTNS-II, RT, WW, DF, 16K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43409
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A540　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)　7％引張り　（78K).

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43410. Ni, A540　kohyama, RTNS-II, RT, WW, DF, 52K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43410
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A540　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43411. Ni, A540　kohyama, RTNS-II, RT, WW, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43411
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A540　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43412. Ni, A540　kohyama, RTNS-II, RT, WW, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43412
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A540　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

(備考)場所ずらす.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43413. Ni, A540　kohyama, RTNS-II, RT, WW, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43413
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A540　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43414. Ni, A540　kohyama, RTNS-II, RT, WW, ED., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43414
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A540　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ie10-　黒1（200）.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45125. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45125
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)e-irradiation　　A　α　-3.5赤7（160）.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45126. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45126
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45127. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45127
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45128. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45128
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45129. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45129
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45130. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45130
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45131. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45131
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45132. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45132
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45133. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45133
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45134. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45134
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45135. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45135
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45136. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45136
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Bの上　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45137. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45137
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Bの上の上　αの上の上.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45138. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45138
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45139. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45139
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45140. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45140
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　β　-10.5　赤7（80）.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45141. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45141
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　β　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45142. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45142
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　β　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45143. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45143
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　β　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45144. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45144
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　β　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45145. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45145
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　β　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45146. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45146
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　β　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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