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件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45147. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45147
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)Bの上　β　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45148. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45148
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)Bの上の上　β　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45149. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45149
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　β　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45150. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45150
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C　β　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45151. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45151
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

(備考)C　β　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45152. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45152
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　β　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45153. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45153
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　β　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45154. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45154
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　β　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45338. Ni, RTNS-II, 150℃, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45338
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)e-Irrd　A　α　-4.3　赤0.5（160）.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45339. Ni, RTNS-II, 150℃, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45339
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45340. Ni, RTNS-II, 150℃, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45340
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45341. Ni, RTNS-II, 150℃, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45341
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45342. Ni, RTNS-II, 150℃, DF, 42K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45342
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45343. Ni, RTNS-II, 150℃, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45343
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45344. Ni, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45344
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45345. Ni, RTNS-II, 150℃, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45345
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45346. Ni, RTNS-II, 150℃, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45346
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　α　上から順に6枚.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45347. Ni, RTNS-II, 150℃, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45347
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45348. Ni, RTNS-II, 150℃, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45348
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45349. Ni, RTNS-II, 150℃, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45349
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45350. Ni, RTNS-II, 150℃, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45350
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45351. Ni, RTNS-II, 150℃, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45351
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45352. Ni, RTNS-II, 150℃, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45352
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45353. Ni, RTNS-II, 150℃, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45353
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45354. Ni, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45354
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45355. Ni, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45355
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45356. Ni, RTNS-II, 150℃, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45356
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　β.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45357. Ni, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45357
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　β.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45358. Ni, RTNS-II, 150℃, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45358
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　β.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45359. Ni, RTNS-II, 150℃, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45359
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　β.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45360. Ni, RTNS-II, 150℃, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45360
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　β.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45361. Ni, RTNS-II, 150℃, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45361
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　β.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45362. Ni, RTNS-II, 150℃, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45362
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　β.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45363. Ni, RTNS-II, 150℃, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45363
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　β.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45364. Ni, RTNS-II, 150℃, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45364
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B　β.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45365. Ni, RTNS-II, 150℃, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45365
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C　　fresh　area.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45366. Ni, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45366
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45367. Ni, RTNS-II, 150℃, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45367
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)C　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45657. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1987年7月27日.]

 アイテム
資料番号: O-45657
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)e-　irrad.　C area　　α　＋13赤15～18（300）.

日付: [1987年7月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45658. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1987年7月27日.]

 アイテム
資料番号: O-45658
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年7月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45659. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1987年7月27日.]

 アイテム
資料番号: O-45659
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年7月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45660. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1987年7月27日.]

 アイテム
資料番号: O-45660
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年7月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45661. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年7月27日.]

 アイテム
資料番号: O-45661
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45662. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1987年7月27日.]

 アイテム
資料番号: O-45662
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β　＋8赤9～12（180）.

日付: [1987年7月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45663. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1987年7月27日.]

 アイテム
資料番号: O-45663
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年7月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45664. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1987年7月27日.]

 アイテム
資料番号: O-45664
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年7月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45665. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年7月27日.]

 アイテム
資料番号: O-45665
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46064. Ni, RTNS-II, 450℃, S, 42K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46064
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46065. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46065
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S.

(備考)Mediのコーラス1.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46066. Ni, RTNS-II, 450℃, S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46066
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S.

(備考)　　　　　　　2時計方向.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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