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件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-47067. Ni, JMTR, BF, 10K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-47067
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-47068. Ni, JMTR, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-47068
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48120. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48120
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)loop　 D部分.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48121. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48121
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48122. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 80K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48122
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48123. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48123
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48124. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48124
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)dislocation入れた下側＋薄い部分.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48125. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48125
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)dislocation入れた下側＋薄い部分.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48126. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48126
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)その上側.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48127. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48127
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)その上側.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48128. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48128
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48129. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48129
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C部分　ループ動いている＋9、赤18-21（100）.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48130. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48130
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C部分.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48131. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 80K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48131
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K.

(備考)C部分.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48132. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48132
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C部分.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48133. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48133
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C部分.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48134. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48134
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C部分.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48135. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48135
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)C部分.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48136. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48136
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D部分　β　＋6、赤6-9（220）.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48137. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48137
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D部分　β.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48138. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48138
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D部分　β.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48139. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48139
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)D部分　β.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48140. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48140
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C部分　β　＋5.5赤6-9（220）.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48141. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48141
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C部分　β.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48142. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48142
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)C部分　β.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48143. Ni, Ae902, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48143
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)loop　C　α.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48144. Ni, Ae902, RTNS-II, 150℃, W, DF, 100K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48144
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　α.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48145. Ni, Ae902, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48145
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C　α.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48146. Ni, Ae902, RTNS-II, 150℃, W, DF, 100K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48146
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D　α.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48147. Ni, Ae902, RTNS-II, 150℃, W, ED., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48147
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-55452. Ni, A002, JMTR uncontrolled, 300℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-55452
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A002. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)ループ入り　α.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-55453. Ni, A002, JMTR uncontrolled, 300℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-55453
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11.

(備考)α.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-55454. Ni, A002, JMTR uncontrolled, 300℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-55454
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-55455. Ni, A002, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-55455
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-55456. Ni, A002, JMTR uncontrolled, 300℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-55456
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-55457. Ni, A002, JMTR uncontrolled, 300℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-55457
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-55458. Ni, A002, JMTR uncontrolled, 300℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-55458
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-55459. Ni, A002, JMTR uncontrolled, 300℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-55459
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-55460. Ni, A002, JMTR uncontrolled, 300℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-55460
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11.

(備考)α.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-55461. Ni, A002, JMTR uncontrolled, 300℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-55461
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-55462. Ni, A002, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-55462
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-55463. Ni, A002, JMTR uncontrolled, 300℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-55463
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-55464. Ni, A002, JMTR uncontrolled, 300℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-55464
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-55465. Ni, A002, JMTR uncontrolled, 300℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-55465
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-55466. Ni, A002, JMTR uncontrolled, 300℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-55466
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-55467. Ni, A002, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-55467
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-55468. Ni, A002, JMTR uncontrolled, 300℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-55468
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-55469. Ni, A002, JMTR uncontrolled, 300℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-55469
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-55470. Ni, A002, JMTR uncontrolled, 300℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-55470
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-55471. Ni, A002, JMTR uncontrolled, 300℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-55471
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)α.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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