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件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61239. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF, 53K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61239
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)53K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61240. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF, 53K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61240
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)53K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61241. Ni, JMTR controlled　, 350℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61241
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61346. Ni, N104, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61346
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N104. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5.3K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61347. Ni, N104, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61347
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N104. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5.3K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61348. Ni, N104, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61348
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N104. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5.3K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61349. Ni, N104, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61349
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N104. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5.3K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61350. Ni, N104, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61350
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N104. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5.3K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61351. Ni, N104, JMTR uncontrolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61351
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N104. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61352. Ni, N104, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61352
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N104. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5.3K.

(備考)厚くなる途中にboundary.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61353. Ni, N104, JMTR uncontrolled　, 400℃, DF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61353
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N104. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61354. Ni, A006, JMTR controlled　, 300℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61354
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A006. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)試料厚くゴミも表面にのっているので組み写真用低倍を撮るのは無理.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61355. Ni, A006, JMTR controlled　, 300℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61355
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A006. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82470. Ni, JMTRクラッド, DF, 100K., 1991. 9. 7.

 アイテム
資料番号: O-82470
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)クラッド照射. 日付元記載「1991. 9. 7」.

日付: 1991. 9. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82471. Ni, JMTRクラッド, DF, 100K., 1991. 9. 7.

 アイテム
資料番号: O-82471
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1991. 9. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82472. Ni, JMTRクラッド, DF, 100K., 1991. 9. 7.

 アイテム
資料番号: O-82472
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1991. 9. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82473. Ni, JMTRクラッド, BF, 100K., 1991. 9. 7.

 アイテム
資料番号: O-82473
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1991. 9. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82474. Ni, JMTRクラッド, BF, 100K., 1991. 9. 7.

 アイテム
資料番号: O-82474
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1991. 9. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82475. Ni, JMTRクラッド, DF, 100K., 1991. 9. 7.

 アイテム
資料番号: O-82475
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　＋20赤0-3（60）.

日付: 1991. 9. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82476. Ni, JMTRクラッド, DF, 100K., 1991. 9. 7.

 アイテム
資料番号: O-82476
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　.

日付: 1991. 9. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82477. Ni, JMTRクラッド, DF, 52K., 1991. 9. 7.

 アイテム
資料番号: O-82477
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α　.

日付: 1991. 9. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82478. Ni, JMTRクラッド, DF, 100K., 1991. 9. 7.

 アイテム
資料番号: O-82478
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　.

日付: 1991. 9. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82479. Ni, JMTRクラッド, DF, 52K., 1991. 9. 7.

 アイテム
資料番号: O-82479
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α　.

日付: 1991. 9. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82480. Ni, JMTRクラッド, ED., 1991. 9. 7.

 アイテム
資料番号: O-82480
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　.

日付: 1991. 9. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82481. Ni, JMTRクラッド, DF, 100K., 1991. 9. 7.

 アイテム
資料番号: O-82481
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β＋＋13.54赤3-6（80）.

日付: 1991. 9. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82482. Ni, JMTRクラッド, DF, 52K., 1991. 9. 7.

 アイテム
資料番号: O-82482
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: 1991. 9. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82483. Ni, JMTRクラッド, DF, 100K., 1991. 9. 7.

 アイテム
資料番号: O-82483
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1991. 9. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82484. Ni, JMTRクラッド, DF, 52K., 1991. 9. 7.

 アイテム
資料番号: O-82484
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: 1991. 9. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82485. Ni, JMTRクラッド, DF, 100K., 1991. 9. 7.

 アイテム
資料番号: O-82485
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1991. 9. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82486. Ni, JMTRクラッド, ED., 1991. 9. 7.

 アイテム
資料番号: O-82486
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: 1991. 9. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82487. Ni, JMTRクラッド, DF, 100K., 1991. 9. 7.

 アイテム
資料番号: O-82487
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β位置.

日付: 1991. 9. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82488. Ni, JMTRクラッド, DF, 52K., 1991. 9. 7.

 アイテム
資料番号: O-82488
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β位置.

日付: 1991. 9. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84479. Ni, JMTRcycle-II, C-A3, BF, 31K., 1992. 5. 26.

 アイテム
資料番号: O-84479
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)C-A3. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)観察不能領域. 日付元記載「1992. 5. 26」.

日付: 1992. 5. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84480. Ni, JMTRcycle-II, C-A3, BF, 31K., 1992. 5. 26.

 アイテム
資料番号: O-84480
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)C-A3. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)観察不能領域.

日付: 1992. 5. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84481. Ni, JMTRcycle-II, C-A3, BF, 31K., 1992. 5. 26.

 アイテム
資料番号: O-84481
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)C-A3. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)観察可能領域　微細結晶粒.

日付: 1992. 5. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84482. Ni, JMTRcycle-II, C-A3, ED., 1992. 5. 26.

 アイテム
資料番号: O-84482
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)C-A3. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)観察可能領域　微細結晶粒.

日付: 1992. 5. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84483. Ni, JMTRcycle-II, C-A3, BF, 11K., 1992. 5. 26.

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資料番号: O-84483
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)C-A3. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)観察可能領域　微細結晶粒.

日付: 1992. 5. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84497. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, BF, 11K., [1992年5月26日.]

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資料番号: O-84497
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84498. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, BF, 16K., [1992年5月26日.]

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資料番号: O-84498
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84499. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, BF, 31K., [1992年5月26日.]

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資料番号: O-84499
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84500. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

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資料番号: O-84500
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　上を撮った傾き.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84501. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

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資料番号: O-84501
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84502. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

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資料番号: O-84502
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　（0,0）の時のdiff.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84503. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

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資料番号: O-84503
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84504. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, BF, 31K., [1992年5月26日.]

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資料番号: O-84504
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84505. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84505
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84506. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, DF, 31K., [1992年5月26日.]

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資料番号: O-84506
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)有るさ前のgrainも同じ厚さ勾配.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84514. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

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資料番号: O-84514
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　＋2赤0-3（180）.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84515. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

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資料番号: O-84515
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84516. Ni, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84516
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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