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件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84517. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84517
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84518. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 11K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84518
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84519. Ni, JMTRcycle-II, B, BF, 11K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84519
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84520. Ni, JMTRcycle-II, B, BF, 11K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84520
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84521. Ni, JMTRcycle-II, B, BF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84521
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)厚い所　ボイド.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84522. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84522
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　-6赤0-3（100）.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84523. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84523
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84524. Ni, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84524
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84525. Ni, JMTRcycle-II, B, BF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84525
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)別のgrain　dislocation　grain.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84526. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 52K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84526
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84527. Ni, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84527
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84528. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 52K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84528
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84529. Ni, JMTRcycle-II, B, BF, 16K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84529
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84530. Ni, JMTRcycle-II, B, BF, 16K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84530
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84531. Ni, JMTRcycle-II, B, BF, 21K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84531
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84532. Ni, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84532
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)傾き（0,0）.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84533. Ni, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84533
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86507. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 42K., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86507
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K.

(備考)日付元記載「90. 11. 16」. 実験者元記載「浜田」.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86508. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 42K., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86508
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86509. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86509
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86510. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86510
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86511. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86511
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86512. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86512
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86513. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86513
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86514. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86514
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86515. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86515
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86516. Ni, JMTR uncontrolled, 300℃, BF., [1990年]11/19.

 アイテム
資料番号: O-86516
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)日付元記載「11/19」.

日付: [1990年]11/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86517. Ni, JMTR uncontrolled, 300℃, ED., [1990年]11/19.

 アイテム
資料番号: O-86517
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年]11/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86518. Ni, JMTR uncontrolled, 300℃, BF., [1990年]11/19.

 アイテム
資料番号: O-86518
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)boundary.

日付: [1990年]11/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86519. Ni, JMTR uncontrolled, 300℃, BF., [1990年]11/19.

 アイテム
資料番号: O-86519
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)反対側.

日付: [1990年]11/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86520. Ni, JMTR uncontrolled, 300℃, ED., [1990年]11/19.

 アイテム
資料番号: O-86520
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)この傾きのdiff.

日付: [1990年]11/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86521. Ni, JMTR uncontrolled, 300℃, ED., [1990年]11/19.

 アイテム
資料番号: O-86521
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)その時と同じXY傾きのdiff.

日付: [1990年]11/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87908. Ni, A863, JMTR controlled, 200℃, 21K., 1991. 2. 4.

 アイテム
資料番号: O-87908
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A863. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)21K.

日付: 1991. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87909. Ni, A863, JMTR controlled, 200℃., 1991. 2. 4.

 アイテム
資料番号: O-87909
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A863. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃.

日付: 1991. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87915. Ni, A964, JMTR controlled, 200℃, BF, 21K., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87915
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A964. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87916. Ni, A964, JMTR controlled, 200℃, ED., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87916
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A964. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87970. Ni, A864, DF, 52K., 1991. 2. 5.

 アイテム
資料番号: O-87970
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A864. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)コンタミのため再ケンマ　3sec　BFとDFの対応. 日付元記載「1991. 2. 5.」.

日付: 1991. 2. 5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87971. Ni, A864, BF, 52K., 1991. 2. 5.

 アイテム
資料番号: O-87971
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A864. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)BFとDFの対応.

日付: 1991. 2. 5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87972. Ni, A864, DF, 52K., 1991. 2. 5.

 アイテム
資料番号: O-87972
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A864. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)BFとDFの対応2.

日付: 1991. 2. 5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87973. Ni, A864, BF, 52K., 1991. 2. 5.

 アイテム
資料番号: O-87973
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A864. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)BFとDFの対応2.

日付: 1991. 2. 5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87974. Ni, A864, ED., 1991. 2. 5.

 アイテム
資料番号: O-87974
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A864. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1991. 2. 5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87975. Ni, A864, DF, 100K., 1991. 2. 5.

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資料番号: O-87975
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A864. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)just　2　1/2法.

日付: 1991. 2. 5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87976. Ni, A864, DF, 100K., 1991. 2. 5.

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資料番号: O-87976
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A864. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)over2　.

日付: 1991. 2. 5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87977. Ni, A864, DF, 52K., 1991. 2. 5.

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資料番号: O-87977
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A864. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-4.1黒0.5（140）.

日付: 1991. 2. 5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87978. Ni, A864, BF, 52K., 1991. 2. 5.

 アイテム
資料番号: O-87978
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A864. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: 1991. 2. 5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87979. Ni, A864, ED., 1991. 2. 5.

 アイテム
資料番号: O-87979
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A864. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: 1991. 2. 5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87980. Ni, A864, 52K., 1991. 2. 5.

 アイテム
資料番号: O-87980
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A864. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β＋6.5赤6.5340.

日付: 1991. 2. 5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87981. Ni, A864., 1991. 2. 5.

 アイテム
資料番号: O-87981
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A864. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: 1991. 2. 5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87982. Ni, A864., 1991. 2. 5.

 アイテム
資料番号: O-87982
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A864. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: 1991. 2. 5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87983. Ni, A864, ED., 1991. 2. 5.

 アイテム
資料番号: O-87983
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A864. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1991. 2. 5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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