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件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88184. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88184
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88185. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88185
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

(備考)B.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88186. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88186
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)just.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88187. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88187
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)↷.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88188. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88188
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)↶.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88189. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88189
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88190. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88190
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88191. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88191
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

(備考)C.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88192. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88192
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88193. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88193
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88194. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88194
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88195. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88195
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

(備考)D.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88196. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88196
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88197. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88197
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88198. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88198
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88199. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88199
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88200. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88200
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88201. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88201
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88202. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88202
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88203. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88203
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88204. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88204
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88205. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88205
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88206. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88206
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88207. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88207
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88231. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88231
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88232. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88232
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88233. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88233
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88234. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88234
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88235. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88235
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88236. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88236
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88237. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF, 53K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88237
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)53K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88238. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88238
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88239. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88239
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88240. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88240
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88241. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88241
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88242. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88242
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88243. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88243
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88244. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, BF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88244
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88245. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88245
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88246. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, BF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88246
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88247. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88247
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88248. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88248
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88249. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88249
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88250. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, BF, 4K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88250
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)4K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88251. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88251
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88252. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88252
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88288. Ni, A861, JMTR, 120℃, DF, 52K., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: O-88288
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)日付元記載「1991. 2. 6.」.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88289. Ni, A861, JMTR, 120℃, ED., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: O-88289
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88290. Ni, A861, JMTR, 120℃, ED., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: O-88290
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)コンタミ多く断念.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88422. Ni, A861, JMTR　, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88422
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　＋18黒3-6’120）.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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