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11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88608. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88608
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88609. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88609
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88610. Ni, T42, He Ion照射, ED., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88610
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88611. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88611
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88612. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88612
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　3青22（250）.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88613. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88613
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Just　focus　　α.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88614. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88614
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Over 3　focus　α.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88615. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88615
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Under 3　focus　α.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88616. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88616
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88617. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88617
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88618. Ni, T42, He Ion照射, ED., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88618
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88619. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88619
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　6青24（210）.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88620. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88620
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88621. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88621
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88622. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88622
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88623. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88623
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)失敗.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88624. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88624
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)失敗.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88625. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88625
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88626. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88626
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)失敗.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88635. Ni, He Ion照射., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88635
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射.

(備考)日付元記載「7/14 (Wed.)」. 実験者元記載「Y. Hayashi」.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88636. Ni, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88636
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88637. Ni, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88637
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88638. Ni, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88638
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88639. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88639
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88640. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88640
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88641. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88641
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88642. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88642
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88643. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88643
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88644. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88644
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88645. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88645
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Just　focus.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88646. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88646
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Over 3　focus　.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88647. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88647
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Under 3　focus　.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88648. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88648
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Just　focus.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88649. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88649
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Over 3　focus　.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88650. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88650
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Under 3　focus　.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88651. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88651
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88652. Ni, He Ion照射, ED., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88652
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88653. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88653
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88654. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88654
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88655. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88655
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88656. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88656
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Just　focus. 実験者元記載「Y. Hayashi」.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88657. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88657
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Over 2　focus　.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88658. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88658
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Under 2　focus　.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88659. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88659
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Just　focus.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88660. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88660
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Over 2　focus　.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88661. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88661
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Under 2　focus　.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88662. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88662
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88663. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88663
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88664. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88664
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88665. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88665
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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