ニッケル

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88666. Ni, He Ion照射, ED., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88666

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88667. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88667

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Just　focus.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88668. Ni, He Ion照射., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88668

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射.

(備考)Over 2　focus　.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88669. Ni, He Ion照射., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88669

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射.

(備考)Under 2　focus　.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88670. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88670

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Just　focus.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88671. Ni, He Ion照射., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88671

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射.

(備考)Over 2　focus　.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88672. Ni, He Ion照射., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88672

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射.

(備考)Under 2　focus　.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88673. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88673

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88674. Ni, He Ion照射, ED., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88674

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88675. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88675

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88676. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88676

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88748. Ni, He 2MeV, BF, 50K., [1993年]8/5.

アイテム

資料番号: L-88748

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)5μC　α　-5.5赤26（160）エッジ部分. 日付元記載「8/5」. 実験者元記載「by. 林」.

日付: [1993年]8/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88749. Ni, He 2MeV, DF, 100K., [1993年]8/5.

アイテム

資料番号: L-88749

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　　　　　　　　　　　　その奥.

日付: [1993年]8/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88750. Ni, He 2MeV., [1993年]8/5.

アイテム

資料番号: L-88750

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV.

(備考)α　　　　　　　　　　　　さらにその奥.

日付: [1993年]8/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88751. Ni, He 2MeV, BF, 50K., [1993年]8/5.

アイテム

資料番号: L-88751

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　-4.0赤19（110）.

日付: [1993年]8/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88752. Ni, He 2MeV., [1993年]8/5.

アイテム

資料番号: L-88752

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV.

(備考)β.

日付: [1993年]8/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88753. Ni, He 2MeV., [1993年]8/5.

アイテム

資料番号: L-88753

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV.

(備考)β.

日付: [1993年]8/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88754. Ni, He 2MeV, ED., [1993年]8/5.

アイテム

資料番号: L-88754

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]8/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88755. Ni, He 2MeV, DF, 100K., [1993年]8/5.

アイテム

資料番号: L-88755

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)エッジ部分.

日付: [1993年]8/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88756. Ni, He 2MeV., [1993年]8/5.

アイテム

資料番号: L-88756

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV.

(備考)その奥.

日付: [1993年]8/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88757. Ni, He 2MeV, BF, 100K., [1993年]8/5.

アイテム

資料番号: L-88757

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]8/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88758. Ni, He 2MeV., [1993年]8/5.

アイテム

資料番号: L-88758

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV.

日付: [1993年]8/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88759. Ni, He 2MeV., [1993年]8/5.

アイテム

資料番号: L-88759

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV.

(備考)更にその奥.

日付: [1993年]8/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88760. Ni, He 2MeV, DF, 100K., [1993年]8/5.

アイテム

資料番号: L-88760

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)エッジ部分　　α　-6.5赤29（160）.

日付: [1993年]8/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88761. Ni, He 2MeV., [1993年]8/5.

アイテム

資料番号: L-88761

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV.

(備考)その奥　　α.

日付: [1993年]8/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88762. Ni, He 2MeV, DF, 100K., [1993年]8/5.

アイテム

資料番号: L-88762

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　　-5赤21（290）.

日付: [1993年]8/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88763. Ni, He 2MeV., [1993年]8/5.

アイテム

資料番号: L-88763

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV.

(備考)β.

日付: [1993年]8/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88764. Ni, He 2MeV, ED., [1993年]8/5.

アイテム

資料番号: L-88764

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]8/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88765. Ni, He 2MeV, DF, 100K., [1993年8月5日.]

アイテム

資料番号: L-88765

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-1赤2（260）. 実験者元記載「by. 林」.

日付: [1993年8月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88766. Ni, He 2MeV, BF., [1993年8月5日.]

アイテム

資料番号: L-88766

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1993年8月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88767. Ni, He 2MeV, BF., [1993年8月5日.]

アイテム

資料番号: L-88767

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1993年8月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88768. Ni, He 2MeV, DF., [1993年8月5日.]

アイテム

資料番号: L-88768

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　65の奥.

日付: [1993年8月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88769. Ni, He 2MeV, DF, 100K., [1993年8月5日.]

アイテム

資料番号: L-88769

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-4赤10（310）.

日付: [1993年8月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88770. Ni, He 2MeV, DF., [1993年8月5日.]

アイテム

資料番号: L-88770

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β.

日付: [1993年8月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88771. Ni, He 2MeV, ED., [1993年8月5日.]

アイテム

資料番号: L-88771

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年8月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88772. Ni, He 2MeV, DF, 100K., [1993年8月5日.]

アイテム

資料番号: L-88772

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-4赤0（250）.

日付: [1993年8月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88773. Ni, He 2MeV, BF., [1993年8月5日.]

アイテム

資料番号: L-88773

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1993年8月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88774. Ni, He 2MeV, BF., [1993年8月5日.]

アイテム

資料番号: L-88774

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1993年8月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88775. Ni, He 2MeV, DF., [1993年8月5日.]

アイテム

資料番号: L-88775

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　72の奥.

日付: [1993年8月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88776. Ni, He 2MeV, DF, 100K., [1993年8月5日.]

アイテム

資料番号: L-88776

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-4.5赤5（240）.

日付: [1993年8月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88777. Ni, He 2MeV, BF., [1993年8月5日.]

アイテム

資料番号: L-88777

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年8月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88778. Ni, He 2MeV, DF., [1993年8月5日.]

アイテム

資料番号: L-88778

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　76の奥.

日付: [1993年8月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88779. Ni, He 2MeV, ED., [1993年8月5日.]

アイテム

資料番号: L-88779

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1993年8月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88780. Ni, He 2MeV, DF, 100K., [1993年8月5日.]

アイテム

資料番号: L-88780

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)50μC　α　-31赤23（210）. 実験者元記載「by. 林」.

日付: [1993年8月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88781. Ni, He 2MeV, BF., [1993年8月5日.]

アイテム

資料番号: L-88781

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1993年8月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88782. Ni, He 2MeV, BD., [1993年8月5日.]

アイテム

資料番号: L-88782

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)BD. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1993年8月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88783. Ni, He 2MeV, ED., [1993年8月5日.]

アイテム

資料番号: L-88783

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　80の奥.

日付: [1993年8月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88784. Ni, He 2MeV, DF, 100K., [1993年8月5日.]

アイテム

資料番号: L-88784

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-26赤17（60）.

日付: [1993年8月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88785. Ni, He 2MeV, DF., [1993年8月5日.]

アイテム

資料番号: L-88785

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年8月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88786. Ni, He 2MeV, DF., [1993年8月5日.]

アイテム

資料番号: L-88786

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　84の奥.

日付: [1993年8月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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