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11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88787. Ni, He 2MeV, ED., [1993年8月5日.]

 アイテム
資料番号: L-88787
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1993年8月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88788. Ni, He 2MeV., [1993年8月5日.]

 アイテム
資料番号: L-88788
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV.

(備考)失敗.

日付: [1993年8月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88789. Ni, He 2MeV, DF, 100K., [1993年8月5日.]

 アイテム
資料番号: L-88789
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　　-24赤17（60）.

日付: [1993年8月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88790. Ni, He 2MeV, BF., [1993年8月5日.]

 アイテム
資料番号: L-88790
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1993年8月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88791. Ni, He 2MeV, BF., [1993年8月5日.]

 アイテム
資料番号: L-88791
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1993年8月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88792. Ni, He 2MeV, DF, 100K., [1993年8月5日.]

 アイテム
資料番号: L-88792
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　89の奥.

日付: [1993年8月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88793. Ni, He 2MeV, DF, 100K., [1993年8月5日.]

 アイテム
資料番号: L-88793
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　　-31赤18（270）.

日付: [1993年8月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88794. Ni, He 2MeV, BF., [1993年8月5日.]

 アイテム
資料番号: L-88794
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年8月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88795. Ni, He 2MeV, DF., [1993年8月5日.]

 アイテム
資料番号: L-88795
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　93の奥.

日付: [1993年8月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88796. Ni, He 2MeV, ED., [1993年8月5日.]

 アイテム
資料番号: L-88796
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年8月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88797. Ni, He 2MeV, BF, 50K., [1993年8月5日.]

 アイテム
資料番号: L-88797
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He 2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年8月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88997. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-88997
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

(備考)DEMO用　30K, 20K, 50K, 100Kdisl中心に撮る. 日付元記載「9/3 (金)」. 実験者元記載「小笠原」.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88998. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-88998
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88999. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-88999
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89000. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89000
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89001. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89001
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89002. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89002
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89003. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89003
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89004. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89004
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89005. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89005
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89006. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89006
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89007. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89007
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89008. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89008
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89009. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89009
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89010. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89010
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89011. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89011
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89012. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89012
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89013. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89013
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89014. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89014
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89015. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89015
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89016. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89016
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89017. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89017
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89018. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89018
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89019. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89019
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89020. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89020
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89021. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89021
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89022. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89022
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89023. Ni, 300/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89023
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)300/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89024. Ni, 200/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89024
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)200/400℃.

(備考)日付元記載「9/3 (金)」. 実験者元記載「小笠原」.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89025. Ni, 200/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89025
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)200/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89026. Ni, 200/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89026
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)200/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89027. Ni, 200/400℃., [1993年]9/3 (金).

 アイテム
資料番号: L-89027
範囲と内容

(試料)Ni. (照射温度)200/400℃.

日付: [1993年]9/3 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997.

 コレクション
資料番号: KURNS MIXED 2018/3
要約 高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として幅広く行われている。本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行いその後に電子顕微鏡観察した結果を記録した写真のネガフィルムで，さまざまな形態の照射欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，現在研究用等原子炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件変更により実施できなくなった実験条件で得られた，希少な照射材料の撮影結果を含む。Material irradiation experiments using high-energy particles are conducted as a means of introducing defects into the material and as a property test of the material used under irradiation. This collection consists of negative films that...
日付: 1985.1.10 〜 1997.7.26. [昭和60年〜平成9年.]; [1985-01-10/1997-07-26.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive

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