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11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16639. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16639
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)一つはずし.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16640. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16640
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16641. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16641
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16642. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16642
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16643. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16643
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16644. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16644
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)defects極めて少ない.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16645. Ni, A956, RTNS-II, 350℃, S, BF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16645
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A956. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ケンマ不良暗視野不可能.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16646. Ni, A798, RTNS-II, 350℃, S, BF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16646
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16647. Ni, A798, RTNS-II, 350℃, S, BF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16647
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16648. Ni, A798, RTNS-II, 350℃, S, BF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16648
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16649. Ni, A798, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16649
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16650. Ni, A798, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16650
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ボイドいるがその数極めて少ない.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16651. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16651
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16652. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16652
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16653. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16653
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16654. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16654
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16655. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16655
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16656. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16656
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16657. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16657
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)dislocationそば.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16658. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16658
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16659. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16659
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16660. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16660
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16661. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16661
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16662. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16662
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16663. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16663
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16664. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16664
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16665. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16665
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16666. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16666
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16667. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16667
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16668. Ni, A-4, 400℃, 900000000000000000, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16668
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A-4. (照射温度)400℃. (照射量)900000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ゴミでてくる.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16669. Ni, A-4, 400℃, 900000000000000000, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16669
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A-4. (照射温度)400℃. (照射量)900000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16670. Ni, A-4, 400℃, 900000000000000000, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16670
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A-4. (照射温度)400℃. (照射量)900000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16671. Ni, A-4, 400℃, 900000000000000000, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16671
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A-4. (照射温度)400℃. (照射量)900000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16672. Ni, A-4, 400℃, 900000000000000000, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16672
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A-4. (照射温度)400℃. (照射量)900000000000000000. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16673. Ni, A-4, 400℃, 900000000000000000, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16673
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A-4. (照射温度)400℃. (照射量)900000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ボイドらしいもの見つからず.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20918. Ni, A695, RTNS-II+HVEM, DF, 60K., [1987年7月26日.]

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資料番号: L-20918
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695. (照射条件)RTNS-II＋HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)60K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20919. Ni, A695, RTNS-II+HVEM, DF, 60K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20919
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695. (照射条件)RTNS-II＋HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)60K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20920. Ni, A695, RTNS-II+HVEM, DF, 60K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20920
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695. (照射条件)RTNS-II＋HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)60K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20921. Ni, A695, RTNS-II+HVEM, DF, 60K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20921
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695. (照射条件)RTNS-II＋HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)60K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20922. Ni, A695, RTNS-II+HVEM, ED., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20922
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695. (照射条件)RTNS-II＋HVEM. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20923. Ni, A695, RTNS-II+HVEM, DF, 40K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20923
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695. (照射条件)RTNS-II＋HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)40K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20924. Ni, A695, RTNS-II+HVEM, DF, 40K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20924
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695. (照射条件)RTNS-II＋HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)40K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20925. Ni, A695, RTNS-II+HVEM, DF, 40K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20925
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695. (照射条件)RTNS-II＋HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)40K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20926. Ni, A695, RTNS-II+HVEM, DF, 40K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20926
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695. (照射条件)RTNS-II＋HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)40K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20927. Ni, A695, RTNS-II+HVEM, DF, 40K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20927
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695. (照射条件)RTNS-II＋HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)40K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20928. Ni, A695, RTNS-II+HVEM, DF, 40K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20928
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695. (照射条件)RTNS-II＋HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)40K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27002. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27002
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0　（3）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27003. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27003
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27004. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27004
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0　（4）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27005. Ni, A793, RTNS-II, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27005
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0　（4）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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