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件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27106. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27106
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27107. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27107
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27108. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27108
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27109. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27109
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27110. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27110
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27111. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27111
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27112. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27112
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27113. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27113
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27114. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27114
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27115. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27115
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27116. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 59K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27116
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)59K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上2黒2（260）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27117. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 59K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27117
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)59K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27118. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, BF, 30K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27118
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27119. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, BF, 59K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27119
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)59K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27120. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, BF, 59K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27120
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)59K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27121. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, BF, 59K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27121
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)59K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27122. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27122
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27123. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27123
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27124. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, BF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27124
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)上1黒180）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27125. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27125
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27126. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27126
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27127. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27127
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27128. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27128
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27129. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 30K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27129
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27130. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27130
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)下6赤2（280）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27131. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27131
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27132. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27132
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27133. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27133
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27134. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27134
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27135. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27135
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27136. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27136
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS.

(備考)制限視野.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27137. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 30K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27137
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27138. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, BF, 30K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27138
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27139. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 59K., [1988年8月4日.]

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資料番号: L-27139
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)59K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27140. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

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資料番号: L-27140
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)上4赤12（200）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27141. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 150K., [1988年8月4日.]

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資料番号: L-27141
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27142. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

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資料番号: L-27142
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)上8赤12（270）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27143. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 150K., [1988年8月4日.]

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資料番号: L-27143
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27144. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, BF, 30K., [1988年8月4日.]

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資料番号: L-27144
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27145. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 59K., [1988年8月4日.]

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資料番号: L-27145
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)59K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27146. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 59K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27146
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)59K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27147. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

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資料番号: L-27147
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27148. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

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資料番号: L-27148
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27149. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27149
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27150. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27150
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27151. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27151
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27152. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 30K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27152
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27153. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27153
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27154. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 150K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27154
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27155. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 150K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-27155
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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