ニッケル

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27156. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 150K., [1988年8月4日.]

アイテム

資料番号: L-27156

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

日付: [1988年8月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27157. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

アイテム

資料番号: L-27157

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年8月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27158. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 73K., [1988年8月4日.]

アイテム

資料番号: L-27158

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K.

(備考)下12赤0（40）.

日付: [1988年8月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27159. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 30K., [1988年8月4日.]

アイテム

資料番号: L-27159

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27160. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, BF, 30K., [1988年8月4日.]

アイテム

資料番号: L-27160

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年8月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27161. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, BF, 73K., [1988年8月4日.]

アイテム

資料番号: L-27161

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)73K.

日付: [1988年8月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27162. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, BF, 73K., [1988年8月4日.]

アイテム

資料番号: L-27162

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)73K.

日付: [1988年8月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27163. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 73K., [1988年8月4日.]

アイテム

資料番号: L-27163

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K.

日付: [1988年8月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27164. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

アイテム

資料番号: L-27164

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)欠.

日付: [1988年8月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-27165. Ni, Ke402, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

アイテム

資料番号: L-27165

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ke402. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)エッジ.

日付: [1988年8月4日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37564. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 50K., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37564

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　-5.0赤2（180）. 日付元記載「10/26」.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37565. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 100K., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37565

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37566. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37566

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37567. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 100K., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37567

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37568. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, ED., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37568

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37569. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37569

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37570. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 100K., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37570

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37571. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, ED., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37571

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37572. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 50K., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37572

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　-15.0　　0.0.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37573. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 100K., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37573

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37574. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37574

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37575. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 100K., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37575

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37576. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, ED., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37576

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37577. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37577

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37578. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 100K., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37578

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37579. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, ED., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37579

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37580. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 50K., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37580

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)αの.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37581. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 100K., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37581

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37582. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37582

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　-1.0黒0（200）.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37583. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 100K., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37583

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37584. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37584

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37585. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 100K., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37585

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37586. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, ED., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37586

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37587. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37587

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37588. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 100K., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37588

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37589. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, ED., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37589

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37590. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37590

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37591. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 100K., [1988]10/26.

アイテム

資料番号: L-37591

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37592. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 50K., [1988年10月26日.]

アイテム

資料番号: L-37592

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)γ（0.0赤1（160）.

日付: [1988年10月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37593. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 100K., [1988年10月26日.]

アイテム

資料番号: L-37593

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: [1988年10月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37594. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988年10月26日.]

アイテム

資料番号: L-37594

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: [1988年10月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37595. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 100K., [1988年10月26日.]

アイテム

資料番号: L-37595

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: [1988年10月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37596. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, ED., [1988年10月26日.]

アイテム

資料番号: L-37596

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)γ.

日付: [1988年10月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37597. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988年10月26日.]

アイテム

資料番号: L-37597

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)γ.

日付: [1988年10月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37598. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 100K., [1988年10月26日.]

アイテム

資料番号: L-37598

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)γ.

日付: [1988年10月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37599. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, ED., [1988年10月26日.]

アイテム

資料番号: L-37599

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)γ.

日付: [1988年10月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37600. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988年10月26日.]

アイテム

資料番号: L-37600

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)γ.

日付: [1988年10月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37601. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 100K., [1988年10月26日.]

アイテム

資料番号: L-37601

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)γ.

日付: [1988年10月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37602. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 50K., [1988年10月26日.]

アイテム

資料番号: L-37602

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)δ（-9.5黒0.5（180））.

日付: [1988年10月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37603. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 100K., [1988年10月26日.]

アイテム

資料番号: L-37603

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)δ.

日付: [1988年10月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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