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件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37723. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 20K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37723
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　＋1.0赤0.5（330）.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37724. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37724
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37725. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37725
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37726. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 8K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37726
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)8K.

(備考)β.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37727. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 20K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37727
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37728. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37728
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37729. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37729
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37730. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37730
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37731. Ni, DF, 80K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37731
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37733. Ni, BF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37733
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37734. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 200K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37734
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)box11　①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37735. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 200K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37735
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37736. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 20K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37736
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37737. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 20K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37737
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37738. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 20K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37738
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37739. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 20K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37739
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37740. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 20K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37740
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37741. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 20K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37741
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37742. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 37K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37742
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37743. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37743
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37744. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37744
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37745. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37745
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37746. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37746
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37747. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37747
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37748. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37748
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37749. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37749
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37750. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37750
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37751. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37751
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37752. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37752
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37753. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37753
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37754. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37754
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37755. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37755
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37756. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37756
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37757. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 15K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37757
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37758. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 150K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37758
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37759. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37759
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37760. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37760
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37761. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37761
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37762. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37762
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37763. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 20K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37763
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37764. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 20K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37764
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37765. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37765
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37766. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37766
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37767. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37767
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37768. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37768
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37769. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37769
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37770. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 37K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37770
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37771. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 37K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37771
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37772. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37772
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37773. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37773
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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