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件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7986. Ni, A517, RTNS-II, 290℃, M., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7986
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A517. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7987. Ni, A517, RTNS-II, 290℃, M., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7987
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A517. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7988. Ni, A517, RTNS-II, 290℃, M., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7988
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A517. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7989. Ni, A517, RTNS-II, 290℃, M., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7989
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A517. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7990. Ni, A517, RTNS-II, 290℃, M., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7990
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A517. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7991. Ni, A517, RTNS-II, 290℃, M., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7991
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A517. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7992. Ni, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7992
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7993. Ni, RTNS-II, 290℃, S, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7993
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7994. Ni, RTNS-II, 290℃, S, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7994
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7995. Ni, RTNS-II, 290℃, S, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7995
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7996. Ni, RTNS-II, 290℃, S, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7996
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7997. Ni, RTNS-II, 290℃, S, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7997
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7998. Ni, RTNS-II, 290℃, S, ED, 55cm., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7998
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7999. Ni, RTNS-II, 290℃, S., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7999
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8000. Ni, RTNS-II, 290℃, S, DF., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-8000
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8001. Ni, RTNS-II, 290℃, S., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-8001
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8002. Ni, RTNS-II, 290℃, S, BF., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-8002
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8003. Ni, RTNS-II, 290℃, S, BF., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-8003
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8004. Ni, RTNS-II, 290℃, S, BF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-8004
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8005. Ni, RTNS-II, 290℃, S, BF, 30K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-8005
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8006. Ni, RTNS-II, 290℃, S, BF, 30K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-8006
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8007. Ni, RTNS-II, 290℃, S, BF, 30K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-8007
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8008. Ni, RTNS-II, 290℃, S, BF, 30K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-8008
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8009. Ni, RTNS-II, 290℃, S, BF, 30K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-8009
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)↓.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8010. Ni, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-8010
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8011. Ni, RTNS-II, 290℃, S, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-8011
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)同じ場所.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8012. Ni, RTNS-II, 290℃, S, ED, 55cm., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-8012
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)↑.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8013. Ni, RTNS-II, 290℃, S, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-8013
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8014. Ni, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-8014
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8742. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8742
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8743. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8743
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓ stereo.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8744. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8744
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8745. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8745
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8746. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8746
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8747. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8747
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓　任意場所.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8748. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8748
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8749. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8749
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8750. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, ED, 55cm., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8750
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8751. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8751
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8752. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8752
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8753. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8753
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓ stereo.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8754. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8754
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8755. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8755
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8756. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8756
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8757. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8757
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓　任意場所.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8758. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8758
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8759. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8759
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8760. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, ED, 55cm., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8760
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8761. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8761
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8762. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8762
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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