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件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60172. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60172
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g上向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60173. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60173
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g下向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)α.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60174. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60174
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g下向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60175. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60175
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g下向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60176. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, ED., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60176
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60177. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60177
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g下向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60178. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60178
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g下向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60179. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60179
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g下向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60180. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60180
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g上向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60181. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60181
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g上向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60182. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60182
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g上向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60183. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60183
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g上向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60184. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60184
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60185. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60185
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60186. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60186
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60187. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 50K., [1990年11月13日.]

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資料番号: L-60187
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)粒界にループが多い。.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60188. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 100K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60188
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60189. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 50K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60189
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)ループ多い.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60190. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 30K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60190
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)粒界近く.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60191. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 15K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60191
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K.

(備考)↓.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60192. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, DF, 100K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60192
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60193. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, DF, 100K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60193
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)↓.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60194. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, DF, 100K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60194
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60195. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, DF, 100K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60195
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60196. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, DF, 100K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60196
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60197. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, DF, 100K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60197
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60198. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, DF, 100K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60198
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60199. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, DF, 100K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60199
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60200. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, DF, 100K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60200
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60201. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, DF, 15K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60201
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60202. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 100K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60202
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ボイドコントラスト.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60203. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 100K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60203
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)転位コントラスト.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60204. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60204
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60205. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60205
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60206. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF., [1990年11月13日.]

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資料番号: L-60206
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60207. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF., [1990年11月13日.]

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資料番号: L-60207
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60208. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF., [1990年11月13日.]

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資料番号: L-60208
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60209. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 50K., [1990年11月13日.]

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資料番号: L-60209
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　screw dis.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60210. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 30K., [1990年11月13日.]

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資料番号: L-60210
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)α　screw dis.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60211. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 30K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60211
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)α　screw dis.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60212. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 30K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60212
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)δ　screw dis.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60213. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 50K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60213
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)δ　screw dis.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60214. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 50K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60214
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)δ　screw dis.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60215. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60215
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)G.B.近くに転位ループ多い.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60216. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60216
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60217. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60217
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60218. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, DF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60218
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)g＝200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60219. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, DF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60219
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0(4).

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60220. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60220
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞0(4).

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60221. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60221
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞0(4).

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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