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11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8763. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8763
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8764. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8764
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8765. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8765
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8766. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8766
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8767. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8767
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8768. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8768
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8769. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8769
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8770. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8770
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8771. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8771
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8772. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8772
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8773. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, ED, 55cm., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8773
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8774. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8774
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8775. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8775
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8776. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, ED, 55cm., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8776
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8777. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8777
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8778. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8778
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8779. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8779
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8780. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8780
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8781. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8781
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8782. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8782
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8783. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8783
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8784. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8784
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8785. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8785
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8786. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8786
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8787. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8787
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8788. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8788
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8789. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8789
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8790. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8790
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8791. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8791
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8792. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8792
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8793. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8793
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8794. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8794
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8795. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8795
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8796. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8796
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8797. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8797
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8915. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

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資料番号: L-8915
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e-未照射域　α.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8916. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

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資料番号: L-8916
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8917. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

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資料番号: L-8917
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8918. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

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資料番号: L-8918
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8919. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

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資料番号: L-8919
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8920. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8920
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8921. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

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資料番号: L-8921
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8922. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), ED, 55cm., [1987年7月21日.]

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資料番号: L-8922
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8923. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8923
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8924. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8924
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8925. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8925
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8926. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8926
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8927. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8927
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8928. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), ED, 55cm., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8928
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8929. Ni, Ae905, RTNS-II, RT(last), DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8929
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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