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件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73399. Ni, JMTR, 350℃-C, BF, 20K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73399
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73400. Ni, JMTR, 350℃-C, DF, 50K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73400
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73401. Ni, JMTR, 350℃-C, DF, 20K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73401
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73402. Ni, JMTR, 350℃-C, DF, 20K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73402
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73403. Ni, JMTR, 350℃-C, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73403
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)二つのGrain入り.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73404. Ni, JMTR, 350℃-C, BF, 10K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73404
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73405. Ni, JMTR, 350℃-C, BF, 20K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73405
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)以上393～405はneighbouring Grains.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73406. Ni, JMTR, 350℃-C, BF, 20K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73406
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73407. Ni, JMTR, 350℃-C, DF, 50K., [1991年2月6日.]

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資料番号: L-73407
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73408. Ni, JMTR, 350℃-C, DF, 20K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73408
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73409. Ni, JMTR, 350℃-C, BF, 20K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73409
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)両Grain.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73410. Ni, JMTR, 350℃-C, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73410
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)両Grain.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73411. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, BF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73411
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73412. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X5., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73412
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X5. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73413. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73413
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73414. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73414
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73415. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73415
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73416. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, BF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73416
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73417. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73417
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73418. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X5., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73418
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X5. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73419. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X5., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73419
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X5. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73420. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73420
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73421. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73421
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73422. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, BF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73422
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73423. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, BF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73423
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73424. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, BF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73424
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73425. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73425
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73426. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X5., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73426
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X5. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73427. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73427
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73428. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, BF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73428
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73429. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73429
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73430. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X5., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73430
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X5. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73431. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73431
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74506. Ni, A008, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74506
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A008. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74507. Ni, A008, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74507
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A008. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74508. Ni, A008, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

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資料番号: L-74508
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A008. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74509. Ni, A008, JMTRクラッド, BF, 100K., [1991年9月18日.]

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資料番号: L-74509
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A008. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Boundary.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74510. Ni, A008, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

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資料番号: L-74510
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A008. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Boundary.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74511. Ni, A008, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

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資料番号: L-74511
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A008. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Boundary.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74512. Ni, A008, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74512
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A008. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74513. Ni, A008, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74513
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A008. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74514. Ni, A008, JMTRクラッド, ED, 82cm., [1991年9月18日.]

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資料番号: L-74514
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A008. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)82cm.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74515. Ni, A008, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74515
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A008. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Boundary.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74516. Ni, A008, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74516
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A008. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Boundary.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74517. Ni, A008, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74517
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A008. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74518. Ni, A008, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74518
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A008. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74519. Ni, A008, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74519
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A008. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)」.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80169. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 10K., 1992. 1. 14.

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資料番号: L-80169
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)10K.

(備考)A-B obs.側　　重ね部. 日付元記載「1992. 1. 14」.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80170. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 10K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80170
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)10K.

(備考)A-B obs.側.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80171. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80171
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)A-B obs.側　　①.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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