ニッケル

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80627. Ni, 0.5MeV He+, DF, 30K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80627

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)下と同じ場所　上よりも少し内部.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80628. Ni, 0.5MeV He+, BF, 30K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80628

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80629. Ni, 0.5MeV He+, BF, 30K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80629

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)下と同じ場所　上よりも少し内部.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80630. Ni, 0.5MeV He+, DF, 30K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80630

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80631. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80631

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　625と関連.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80632. Ni, 0.5MeV He+, BF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80632

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80633. Ni, 0.5MeV He+, BF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80633

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　631より1視野奥明るい所.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80634. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80634

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80635. Ni, 0.5MeV He+, BF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80635

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　エッジ付近.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80636. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80636

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80637. Ni, 0.5MeV He+, ED., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80637

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80638. Ni, 0.5MeV He+, BF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80638

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80639. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80639

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80640. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80640

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　エッジ付近.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80641. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80641

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所　エッジ付近.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80642. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80642

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　内部.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80643. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80643

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所　内部.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80644. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80644

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80645. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80645

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80646. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80646

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)stereo用　644と対.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80647. Ni, 0.5MeV He+, DF, 50K., [1992年]2/ 7.

アイテム

資料番号: L-80647

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)エッジ付近.

日付: [1992年]2/ 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80648. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, BF, 30K., [1992年2月7日.]

アイテム

資料番号: L-80648

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年2月7日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80649. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, DF, 30K., [1992年2月7日.]

アイテム

資料番号: L-80649

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年2月7日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80650. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, DF, 100K., [1992年2月7日.]

アイテム

資料番号: L-80650

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　　エッジ付近.

日付: [1992年2月7日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80651. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, BF, 100K., [1992年2月7日.]

アイテム

資料番号: L-80651

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年2月7日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80652. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, DF, 100K., [1992年2月7日.]

アイテム

資料番号: L-80652

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下と同じ場所　　エッジ付近.

日付: [1992年2月7日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80653. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, BF, 100K., [1992年2月7日.]

アイテム

資料番号: L-80653

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年2月7日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80654. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, DF, 100K., [1992年2月7日.]

アイテム

資料番号: L-80654

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)下と同じ場所　　エッジ付近.

日付: [1992年2月7日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80655. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, BF, 100K., [1992年2月7日.]

アイテム

資料番号: L-80655

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年2月7日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80656. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, DF, 100K., [1992年2月7日.]

アイテム

資料番号: L-80656

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)エッジ付近.

日付: [1992年2月7日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80657. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, DF, 100K., [1992年2月7日.]

アイテム

資料番号: L-80657

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)下と同じ場所　　エッジ付近.

日付: [1992年2月7日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80658. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, BF, 100K., [1992年2月7日.]

アイテム

資料番号: L-80658

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年2月7日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80659. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, BF, 100K., [1992年2月7日.]

アイテム

資料番号: L-80659

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)エッジ付近.

日付: [1992年2月7日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80660. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, DF, 100K., [1992年2月7日.]

アイテム

資料番号: L-80660

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　　エッジ付近.

日付: [1992年2月7日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80661. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, BF, 100K., [1992年2月7日.]

アイテム

資料番号: L-80661

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年2月7日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80662. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, ED., [1992年2月7日.]

アイテム

資料番号: L-80662

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)110.

日付: [1992年2月7日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80663. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, DF, 100K., [1992年2月7日.]

アイテム

資料番号: L-80663

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　　エッジ付近.

日付: [1992年2月7日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80664. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, BF, 100K., [1992年2月7日.]

アイテム

資料番号: L-80664

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所　　」　　　　　　　　　　　　　　　　　　.

日付: [1992年2月7日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80958. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 30K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80958

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)試料の重なったところ. 日付元記載「2/24」.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80959. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 30K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80959

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)58と同じところ.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80960. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 50K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80960

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80961. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 50K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80961

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)60と同じところ.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80962. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 100K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80962

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)界面.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80963. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 100K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80963

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)62の都築少し内部.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80964. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 100K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80964

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)63と同じところ.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80965. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 100K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80965

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)62と同じところ.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80966. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 100K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80966

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Boundary付近.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80967. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 100K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80967

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)66と同じところ.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80968. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 50K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80968

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Boundary付近.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80969. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 50K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80969

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)68と同じところ.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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