ニッケル

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81019. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81019

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA.

(備考)フイルム動かなかった.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81020. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, 50K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81020

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)壁　013に近い.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81021. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, 10K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81021

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)重なり部分カバー多.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81022. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, 10K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81022

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)重なり部分　下の部分多.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81023. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 10K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81023

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)右交差.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81024. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 10K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81024

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)右.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81025. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, 10K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81025

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (条件・倍率等)10K.

(備考)左.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81026. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81026

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA.

(備考)左.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81027. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, 20K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81027

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (条件・倍率等)20K.

(備考)カバーの方の等圧干渉じま.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81028. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81028

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「2/27」.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81029. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81029

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81030. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81030

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81031. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81031

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)内部.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81032. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81032

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)上と同じ.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81033. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81033

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)横.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81034. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81034

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81035. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81035

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81036. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81036

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)内部.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81037. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81037

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81038. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81038

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81039. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81039

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81040. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81040

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81041. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81041

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81042. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81042

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81043. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81043

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)GB近く.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81044. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81044

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)GB近く.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81045. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81045

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)細かい.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81046. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81046

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)下と同じところ.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81047. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81047

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)上と同じところ.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81048. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81048

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81049. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81049

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81050. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81050

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81051. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, ×., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81051

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)×.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81052. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81052

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81053. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81053

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81054. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81054

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B.

(備考)シャッター不良.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81055. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81055

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81056. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81056

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚さ測定用.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81057. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, ED., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81057

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81058. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, 100., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81058

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (条件・倍率等)100.

(備考)dot測定用.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81060. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, 10K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81060

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (条件・倍率等)10K.

(備考)左側交差. 日付元記載「2/27」.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81061. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, 10K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81061

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (条件・倍率等)10K.

(備考)右側交差.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81062. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, DF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81062

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81063. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, BF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81063

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81064. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, 失敗., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81064

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (Dark, Bright, ED)失敗.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81065. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, BF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81065

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81066. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, DF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81066

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)露光不足？.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81067. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, BF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81067

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81068. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, BF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81068

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)67に同じ.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81069. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, DF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81069

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)GBをはさんで差はない.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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