ニッケル

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81338. Ni, DF., [1992年]4/20, 4/22.

アイテム

資料番号: L-81338

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs).

(備考)③.

日付: [1992年]4/20, 4/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81339. Ni, ED., [1992年]4/20, 4/22.

アイテム

資料番号: L-81339

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)③.

日付: [1992年]4/20, 4/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81944. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81944

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)No.5前回つづき　外円部. 日付元記載「7/16」.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81945. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81945

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81946. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81946

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)外.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81947. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81947

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)内.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81948. Ni, Heイオン, BF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81948

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)外.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81949. Ni, Heイオン, BF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81949

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)内.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81950. Ni, Heイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81950

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)外.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81951. Ni, Heイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81951

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)内.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81952. Ni, Heイオン, ED., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81952

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)露出オーバ　2段逆4秒.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81953. Ni, Heイオン, ED., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81953

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)2秒.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81954. Ni, Heイオン, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81954

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81955. Ni, Heイオン, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81955

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81956. Ni, Heイオン, BF, 30K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81956

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)うすいところにはない.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81957. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81957

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)200.

(備考)S1.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81958. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81958

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)SD1.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81959. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81959

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)SD2.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81960. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81960

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)SL1.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81961. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81961

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)SL1.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81962. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81962

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)SL3.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81963. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81963

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)-200.

(備考)SL2.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81964. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81964

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)外　α.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81965. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81965

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)内　α.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81966. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81966

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)内　α.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81967. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81967

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)外　α.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81968. Ni, Heイオン, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81968

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81969. Ni, Heイオン, ED., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81969

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)DF同じところ.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81970. Ni, Heイオン, ED., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81970

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)BF同じところ.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81971. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81971

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81972. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81972

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81973. Ni, Heイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81973

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　ゴミの左.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81974. Ni, Heイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81974

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　ゴミの右.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81975. Ni, Heイオン, 10K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81975

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (条件・倍率等)10K.

(備考)ごみのあるところ数10cm右動いた所.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81976. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81976

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)もとに戻す.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81977. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81977

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81978. Ni, Heイオン., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81978

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン.

(備考)失敗　中の穴のみ.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81979. Ni, Heイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81979

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81980. Ni, Heイオン, BF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81980

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)外.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81981. Ni, Heイオン, BF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81981

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)内.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81982. Ni, Heイオン, BF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81982

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)内.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81983. Ni, Heイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81983

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)外.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81984. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81984

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α’.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81985. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81985

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α’.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81986. Ni, Heイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81986

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α’.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81987. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81987

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β’.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81988. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81988

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β’.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81989. Ni, Heイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81989

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β’.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81990. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81990

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β’.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81991. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

アイテム

資料番号: L-81991

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β’.

日付: [1992年]7/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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