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11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81992. Ni, Heイオン, ED., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81992
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β’.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81993. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81993
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β’.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83131. Ni, BF, 100K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83131
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)以下200.

(備考)反射の違いとloop像. 日付元記載「11/17」. 実験者元記載「大浦」.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83132. Ni, BF, 100K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83132
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83133. Ni, ED., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83133
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)（1）&spot.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83134. Ni, DF, 100K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83134
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83135. Ni, DF, 100K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83135
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83136. Ni, ED., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83136
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)（2）&spot.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83137. Ni, DF, 100K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83137
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83138. Ni, DF, 100K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83138
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)（3）&spot.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83139. Ni, ED., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83139
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83140. Ni, BF, 100K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83140
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)以下220.

(備考)①.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83141. Ni, DF, 100K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83141
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83142. Ni, DF, 100K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83142
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83143. Ni, DF, 100K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83143
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83144. Ni, DF, 100K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83144
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)（4）&spot.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83145. Ni, DF, 150K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83145
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83146. Ni, DF, 150K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83146
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83147. Ni, DF, 100K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83147
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83148. Ni, ED., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83148
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83149. Ni, DF, 100K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83149
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)①.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83150. Ni, DF, 100K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83150
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)①.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83151. Ni, DF, 150K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83151
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

(備考)①.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83152. Ni, DF, 150K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83152
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

(備考)①.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83153. Ni, DF, 100K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83153
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)②.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83154. Ni, DF, 100K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83154
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)②.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83155. Ni, DF, 150K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83155
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

(備考)②.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83156. Ni, DF, 150K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83156
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

(備考)②.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83157. Ni, ED., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83157
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)（5）&spot.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83158. Ni, DF, 100K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83158
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83159. Ni, DF, 100K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83159
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83160. Ni, DF, 150K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83160
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83161. Ni, DF, 150K., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83161
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83162. Ni, ED., [1992年]11/17.

 アイテム
資料番号: L-83162
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)（6）&spot.

日付: [1992年]11/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84460. Ni, DF, 50K., [1992年]12/5（土）.

 アイテム
資料番号: L-84460
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)α＋2.6黒26（200）. 日付元記載「12/5（土）」. 実験者元記載「小笠原」, 「（84460〜84466を示し）M.K.」.

日付: [1992年]12/5（土）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84461. Ni, ED., [1992年]12/5（土）.

 アイテム
資料番号: L-84461
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]12/5（土）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84462. Ni, BF., [1992年]12/5（土）.

 アイテム
資料番号: L-84462
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/5（土）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84463. Ni, DF., [1992年]12/5（土）.

 アイテム
資料番号: L-84463
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β＋11.5黒23（100）.

日付: [1992年]12/5（土）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84464. Ni, ED., [1992年]12/5（土）.

 アイテム
資料番号: L-84464
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]12/5（土）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84465. Ni, BF., [1992年]12/5（土）.

 アイテム
資料番号: L-84465
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/5（土）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84466. Ni, DF., [1992年]12/5（土）.

 アイテム
資料番号: L-84466
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/5（土）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84467. Ni, DF, 50K., [1992年]12/5（土）.

 アイテム
資料番号: L-84467
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α＋16.5黒19（320）. 実験者元記載「（84467〜84471を示し）Y.O.」.

日付: [1992年]12/5（土）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84468. Ni, DF., [1992年]12/5（土）.

 アイテム
資料番号: L-84468
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/5（土）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84469. Ni, ED., [1992年]12/5（土）.

 アイテム
資料番号: L-84469
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]12/5（土）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84470. Ni, DF, 50K., [1992年]12/5（土）.

 アイテム
資料番号: L-84470
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)γ.

日付: [1992年]12/5（土）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84471. Ni, BF., [1992年]12/5（土）.

 アイテム
資料番号: L-84471
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: [1992年]12/5（土）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84472. Ni, BF, 50K., [1992年]12/5（土）.

 アイテム
資料番号: L-84472
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]12/5（土）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84778. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 50K., [1992年]12/11.

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資料番号: L-84778
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「12/11」. 実験者元記載「林」.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84779. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/11.

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資料番号: L-84779
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84780. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84780
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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