ニッケル

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87009. Ni, サイクルII-A, DF, 50K., [1993年3月26日.]

アイテム

資料番号: L-87009

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1993年3月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87010. Ni, サイクルII-A, DF, 50K., [1993年3月26日.]

アイテム

資料番号: L-87010

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1993年3月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87011. Ni, サイクルII-A, DF, 50K., [1993年3月26日.]

アイテム

資料番号: L-87011

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)boundary.

日付: [1993年3月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87697. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/1.

アイテム

資料番号: L-87697

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)失敗. 日付元記載「6/1」.

日付: [1993年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87698. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/1.

アイテム

資料番号: L-87698

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)失敗.

日付: [1993年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87699. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/1.

アイテム

資料番号: L-87699

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87700. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/1.

アイテム

資料番号: L-87700

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87701. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/1.

アイテム

資料番号: L-87701

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)004　-540.

日付: [1993年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87702. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/1.

アイテム

資料番号: L-87702

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87703. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/1.

アイテム

資料番号: L-87703

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87704. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/1.

アイテム

資料番号: L-87704

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87705. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/1.

アイテム

資料番号: L-87705

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87706. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/1.

アイテム

資料番号: L-87706

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87707. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/1.

アイテム

資料番号: L-87707

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)39　R5(40).

日付: [1993年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87708. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/1.

アイテム

資料番号: L-87708

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1993年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87709. Ni, Heイオン照射, ED., [1993年]6/1.

アイテム

資料番号: L-87709

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)110.

(備考)（200）.

日付: [1993年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87710. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/1.

アイテム

資料番号: L-87710

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)・99　-178.

日付: [1993年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87711. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/1.

アイテム

資料番号: L-87711

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年]6/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87717. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87717

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「6/2」.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87718. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87718

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87719. Ni, Heイオン照射, DF, BF., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87719

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87720. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87720

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　＋29黒12（60）.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87721. Ni, Heイオン照射, DF, BF., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87721

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87722. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87722

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β　＋32黒12（150）.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87723. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87723

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87724. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87724

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87725. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87725

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87726. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87726

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87727. Ni, Heイオン照射, DF, BF., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87727

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87728. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87728

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87729. Ni, Heイオン照射, DF, BF., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87729

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87730. Ni, Heイオン照射, ED., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87730

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　（110）.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87731. Ni, Heイオン照射., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87731

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射.

(備考)失敗.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87733. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87733

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)続き. 日付元記載「6/2」.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87734. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87734

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87735. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87735

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87736. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87736

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87737. Ni, Heイオン照射, ED., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87737

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　（110）.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87738. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87738

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87739. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87739

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞＞0.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87740. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87740

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞＞0.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87741. Ni, Heイオン照射, DF, 200K., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87741

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞＞0.

(備考)11s.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87742. Ni, Heイオン照射, DF, 200K., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87742

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞＞0.

(備考)8s.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87743. Ni, Heイオン照射, DF, 200K., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87743

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞＞0.

(備考)16s.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87744. Ni, Heイオン照射, BF, 200K., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87744

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)1s.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87745. Ni, Heイオン照射, BF, 200K., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87745

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)0.7s.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87746. Ni, Heイオン照射, BF, 200K., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87746

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)1.4s.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87747. Ni, Heイオン照射, DF, 330K., [1993年]6/2.

アイテム

資料番号: L-87747

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)③again　α＋2赤0（40）.

日付: [1993年]6/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87904. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/11.

アイテム

資料番号: L-87904

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「6/11」.

日付: [1993年]6/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87905. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/11.

アイテム

資料番号: L-87905

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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