ニッケル

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88062. Ni, LAMPF, DF., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88062

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)2 1/2　Over 4 step.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88063. Ni, LAMPF, DF., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88063

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)2 1/2　Over 2 step.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88064. Ni, LAMPF, DF., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88064

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)just.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88065. Ni, LAMPF, DF., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88065

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)2 1/2　Under 2 step.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88066. Ni, LAMPF, DF., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88066

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)2 1/2　Under 4 step.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88067. Ni, LAMPF, DF, 100K., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88067

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-11.3黒23（260）.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88068. Ni, LAMPF, BF, 100K., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88068

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88069. Ni, LAMPF, ED., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88069

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88070. Ni, LAMPF, DF., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88070

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　-7.4黒11.5（100）.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88071. Ni, LAMPF, BF., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88071

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88072. Ni, LAMPF, DF, 100K., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88072

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88073. Ni, LAMPF, DF, 100K., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88073

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88074. Ni, LAMPF, DF, 20K., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88074

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88075. Ni, LAMPF, BF, 100K., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88075

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88076. Ni, LAMPF, BF, 50K., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88076

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88077. Ni, LAMPF, BF, 100K., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88077

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)前項つづき. 実験者元記載「小笠原」.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88078. Ni, LAMPF, DF, 100K., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88078

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88284. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., 1993. 6. 29.

アイテム

資料番号: L-88284

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)試料状態check　～1min. 日付元記載「1993. 6. 29」. 実験者元記載「Hayashi Kiritani」.

日付: 1993. 6. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88285. Ni, Heイオン照射, DF., 1993. 6. 29.

アイテム

資料番号: L-88285

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)7min.

日付: 1993. 6. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88286. Ni, Heイオン照射, ED., 1993. 6. 29.

アイテム

資料番号: L-88286

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1993. 6. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88287. Ni, Heイオン照射, DF., 1993. 6. 29.

アイテム

資料番号: L-88287

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)13min.

日付: 1993. 6. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88288. Ni, Heイオン照射, DF., 1993. 6. 29.

アイテム

資料番号: L-88288

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)16min.

日付: 1993. 6. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88289. Ni, Heイオン照射, DF., 1993. 6. 29.

アイテム

資料番号: L-88289

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)19min.

日付: 1993. 6. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88290. Ni, Heイオン照射, DF., 1993. 6. 29.

アイテム

資料番号: L-88290

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)右下.

日付: 1993. 6. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88291. Ni, Heイオン照射, DF., 1993. 6. 29.

アイテム

資料番号: L-88291

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)さらに右下.

日付: 1993. 6. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88292. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., 1993. 6. 29.

アイテム

資料番号: L-88292

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)酸化被膜.

日付: 1993. 6. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88293. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., 1993. 6. 29.

アイテム

資料番号: L-88293

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)酸化被膜.

日付: 1993. 6. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-89776. Ni, 2MeV He, 50μC,150nA, DF, 100K., [1993年]10/14 (Thu.),

アイテム

資料番号: L-89776

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)2MeV He. (照射量)50μC,150nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋9.5赤27（200）. 日付元記載「10/14 (Thu.)」. 実験者元記載「by Hayashi」.

日付: [1993年]10/14 (Thu.),

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-89777. Ni, 2MeV He, BF., [1993年]10/14 (Thu.),

アイテム

資料番号: L-89777

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)2MeV He. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]10/14 (Thu.),

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-89778. Ni, 2MeV He, DF., [1993年]10/14 (Thu.),

アイテム

資料番号: L-89778

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)2MeV He. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　∔8.5赤22（320）.

日付: [1993年]10/14 (Thu.),

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-89779. Ni, 2MeV He, BF., [1993年]10/14 (Thu.),

アイテム

資料番号: L-89779

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)2MeV He. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β.

日付: [1993年]10/14 (Thu.),

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-89780. Ni, 2MeV He, Ed., [1993年]10/14 (Thu.),

アイテム

資料番号: L-89780

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)2MeV He. (Dark, Bright, ED)Ed.

(備考)β.

日付: [1993年]10/14 (Thu.),

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-89781. Ni, 2MeV He, DF., [1993年]10/14 (Thu.),

アイテム

資料番号: L-89781

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)2MeV He. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]10/14 (Thu.),

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-89782. Ni, 2MeV He, DF, 100K., [1993年]10/14 (Thu.),

アイテム

資料番号: L-89782

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)2MeV He. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]10/14 (Thu.),

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-89783. Ni, 2MeV He, BF., [1993年]10/14 (Thu.),

アイテム

資料番号: L-89783

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)2MeV He. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1993年]10/14 (Thu.),

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-89784. Ni, 2MeV He, DF., [1993年]10/14 (Thu.),

アイテム

資料番号: L-89784

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)2MeV He. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)82の奥.

日付: [1993年]10/14 (Thu.),

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-89785. Ni, 2MeV He, BF., [1993年]10/14 (Thu.),

アイテム

資料番号: L-89785

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)2MeV He. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1993年]10/14 (Thu.),

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-89786. Ni, 2MeV He, DF., [1993年]10/14 (Thu.),

アイテム

資料番号: L-89786

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)2MeV He. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1993年]10/14 (Thu.),

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-89787. Ni, 2MeV He, DF., [1993年]10/14 (Thu.),

アイテム

資料番号: L-89787

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)2MeV He. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1993年]10/14 (Thu.),

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-89788. Ni, 2MeV He, DF, 100K., [1993年]10/14 (Thu.),

アイテム

資料番号: L-89788

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)2MeV He. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]10/14 (Thu.),

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-89789. Ni, 2MeV He, BF., [1993年]10/14 (Thu.),

アイテム

資料番号: L-89789

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)2MeV He. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)88の奥.

日付: [1993年]10/14 (Thu.),

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-89790. Ni, 2MeV He, BF., [1993年]10/14 (Thu.),

アイテム

資料番号: L-89790

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)2MeV He. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]10/14 (Thu.),

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-89791. Ni, 2MeV He, DF., [1993年]10/14 (Thu.),

アイテム

資料番号: L-89791

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)2MeV He. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]10/14 (Thu.),

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-89792. Ni, 2MeV He, DF., [1993年]10/14 (Thu.),

アイテム

資料番号: L-89792

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)2MeV He. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1993年]10/14 (Thu.),

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-89793. Ni, 2MeV He, DF, 100K., [1993年10月14日.]

アイテム

資料番号: L-89793

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)2MeV He. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　　＋31青8（50）.

日付: [1993年10月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-89794. Ni, 2MeV He, DF., [1993年10月14日.]

アイテム

資料番号: L-89794

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)2MeV He. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1993年10月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-89795. Ni, 2MeV He, BF., [1993年10月14日.]

アイテム

資料番号: L-89795

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)2MeV He. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1993年10月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-89796. Ni, 2MeV He, DF, 100K., [1993年10月14日.]

アイテム

資料番号: L-89796

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)2MeV He. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　　＋27.5青4（160）.

日付: [1993年10月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-89797. Ni, 2MeV He, DF., [1993年10月14日.]

アイテム

資料番号: L-89797

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)2MeV He. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β.

日付: [1993年10月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-89798. Ni, 2MeV He, DF., [1993年10月14日.]

アイテム

資料番号: L-89798

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)2MeV He. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年10月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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