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件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92056. Ni, He ion照射, 500keV, DF, 50K., [1994年]2/14 (Mon).

 アイテム
資料番号: L-92056
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射量)500keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]2/14 (Mon).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92057. Ni, He ion照射, 500keV, DF, 100K., [1994年]2/14 (Mon).

 アイテム
資料番号: L-92057
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射量)500keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/14 (Mon).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92058. Ni, He ion照射, 500keV, DF., [1994年]2/14 (Mon).

 アイテム
資料番号: L-92058
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射量)500keV. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)更に奥.

日付: [1994年]2/14 (Mon).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92059. Ni, He ion照射, 500keV, DF., [1994年]2/14 (Mon).

 アイテム
資料番号: L-92059
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射量)500keV. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1994年]2/14 (Mon).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92060. Ni, He ion照射, 500keV, DF., [1994年]2/14 (Mon).

 アイテム
資料番号: L-92060
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射量)500keV. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1994年]2/14 (Mon).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92061. Ni, He ion照射, 500keV, DF, 50K., [1994年]2/14 (Mon).

 アイテム
資料番号: L-92061
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射量)500keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]2/14 (Mon).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93348. Ni, He ion照射500keV, 20μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93348
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)転位多し　dotなし. 日付元記載「2/18」. 実験者元記載「井関」.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93349. Ni, He ion照射500keV, 20μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93349
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93350. Ni, He ion照射500keV, 20μA, BF, 50K., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93350
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93351. Ni, He ion照射500keV, 20μA, DF, 50K., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93351
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93352. Ni, He ion照射500keV, 20μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93352
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93353. Ni, He ion照射500keV, 20μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93353
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ビーム当たっていない？.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93354. Ni, He ion照射500keV, 50μA., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93354
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)dot多し?　コンタミ.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93355. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93355
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93356. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93356
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ゴミ多し.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93357. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93357
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93358. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 50K., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93358
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93359. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 50K., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93359
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93360. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF, 50K., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93360
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93361. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93361
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ゴミ多し.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93362. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93362
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93363. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93363
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93364. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93364
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93365. Ni, He ion照射500keV, 50μA, ED., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93365
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)100.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93366. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93366
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93367. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93367
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93368. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93368
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93369. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93369
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93370. Ni, He ion照射500keV, 20μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93370
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93371. Ni, He ion照射500keV, 20μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93371
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93372. Ni, He ion照射500keV, 20μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93372
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93373. Ni, He ion照射500keV, 20μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93373
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)別の場所.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93374. Ni, He ion照射500keV, 20μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

 アイテム
資料番号: L-93374
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)別の場所.

日付: [1994年]2/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93375. Ni, He ion照射500keV, 50nA, BF, 100K., [1994年]2/19.

 アイテム
資料番号: L-93375
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚さ. 日付元記載「2/19」. 実験者元記載「Iseki」.

日付: [1994年]2/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93376. Ni, He ion照射501keV, 50nA, DF, 100K., [1994年]2/19.

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資料番号: L-93376
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射501keV. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)厚さ.

日付: [1994年]2/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93377. Ni, He ion照射502keV, 50nA, BF, 100K., [1994年]2/19.

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資料番号: L-93377
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射502keV. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]2/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93378. Ni, He ion照射503keV, 50nA, BF, 100K., [1994年]2/19.

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資料番号: L-93378
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射503keV. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)二本はすし.

日付: [1994年]2/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93379. Ni, He ion照射504keV, 50nA, DF, 100K., [1994年]2/19.

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資料番号: L-93379
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射504keV. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93380. Ni, He ion照射505keV, 50nA, DF, 100K., [1994年]2/19.

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資料番号: L-93380
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射505keV. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)欠陥ではない？.

日付: [1994年]2/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93770. Ni, JMTR, 200℃, DF, 100K., [19]'94/3/23 (水),

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資料番号: L-93770
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)日付元記載「'94/3/23 (水)」. 実験者元記載「by 小笠原」.

日付: [19]'94/3/23 (水),
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93771. Ni, JMTR, 200℃, DF, 100K., [19]'94/3/23 (水),

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資料番号: L-93771
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [19]'94/3/23 (水),
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93772. Ni, JMTR, 200℃, DF, 50K., [19]'94/3/23 (水),

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資料番号: L-93772
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [19]'94/3/23 (水),
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93773. Ni, JMTR, 200℃, BF, 50K., [19]'94/3/23 (水),

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資料番号: L-93773
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]'94/3/23 (水),
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93774. Ni, JMTR, 200℃, DF, 200K., [19]'94/3/23 (水),

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資料番号: L-93774
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'94/3/23 (水),
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93775. Ni, JMTR, 200℃, DF, 100K., [19]'94/3/23 (水),

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資料番号: L-93775
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [19]'94/3/23 (水),
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93776. Ni, JMTR, 200℃, DF, 50K., [19]'94/3/23 (水),

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資料番号: L-93776
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [19]'94/3/23 (水),
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93777. Ni, JMTR, 200℃, DF, 200K., [19]'94/3/23 (水),

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資料番号: L-93777
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [19]'94/3/23 (水),
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93778. Ni, JMTR, 200℃, DF, 100K., [19]'94/3/23 (水),

 アイテム
資料番号: L-93778
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [19]'94/3/23 (水),
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93779. Ni, JMTR, 200℃, DF, 50K., [19]'94/3/23 (水),

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資料番号: L-93779
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [19]'94/3/23 (水),
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93780. Ni, JMTR, 200℃, DF, 50K., [19]'94/3/23 (水),

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資料番号: L-93780
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'94/3/23 (水),
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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