ニッケル

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92056. Ni, He ion照射, 500keV, DF, 50K., [1994年]2/14 (Mon).

アイテム

資料番号: L-92056

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射量)500keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]2/14 (Mon).

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92057. Ni, He ion照射, 500keV, DF, 100K., [1994年]2/14 (Mon).

アイテム

資料番号: L-92057

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射量)500keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/14 (Mon).

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92058. Ni, He ion照射, 500keV, DF., [1994年]2/14 (Mon).

アイテム

資料番号: L-92058

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射量)500keV. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)更に奥.

日付: [1994年]2/14 (Mon).

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92059. Ni, He ion照射, 500keV, DF., [1994年]2/14 (Mon).

アイテム

資料番号: L-92059

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射量)500keV. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1994年]2/14 (Mon).

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92060. Ni, He ion照射, 500keV, DF., [1994年]2/14 (Mon).

アイテム

資料番号: L-92060

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射量)500keV. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1994年]2/14 (Mon).

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92061. Ni, He ion照射, 500keV, DF, 50K., [1994年]2/14 (Mon).

アイテム

資料番号: L-92061

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射量)500keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]2/14 (Mon).

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93348. Ni, He ion照射500keV, 20μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93348

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)転位多し　dotなし. 日付元記載「2/18」. 実験者元記載「井関」.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93349. Ni, He ion照射500keV, 20μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93349

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93350. Ni, He ion照射500keV, 20μA, BF, 50K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93350

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93351. Ni, He ion照射500keV, 20μA, DF, 50K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93351

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93352. Ni, He ion照射500keV, 20μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93352

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93353. Ni, He ion照射500keV, 20μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93353

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ビーム当たっていない？.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93354. Ni, He ion照射500keV, 50μA., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93354

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)dot多し?　コンタミ.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93355. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93355

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93356. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93356

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ゴミ多し.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93357. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93357

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93358. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 50K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93358

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93359. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 50K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93359

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93360. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF, 50K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93360

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93361. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93361

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ゴミ多し.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93362. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93362

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93363. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93363

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93364. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93364

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93365. Ni, He ion照射500keV, 50μA, ED., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93365

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)100.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93366. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93366

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93367. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93367

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93368. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93368

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93369. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93369

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93370. Ni, He ion照射500keV, 20μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93370

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93371. Ni, He ion照射500keV, 20μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93371

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93372. Ni, He ion照射500keV, 20μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93372

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93373. Ni, He ion照射500keV, 20μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93373

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)別の場所.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93374. Ni, He ion照射500keV, 20μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93374

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)別の場所.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93375. Ni, He ion照射500keV, 50nA, BF, 100K., [1994年]2/19.

アイテム

資料番号: L-93375

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚さ. 日付元記載「2/19」. 実験者元記載「Iseki」.

日付: [1994年]2/19.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93376. Ni, He ion照射501keV, 50nA, DF, 100K., [1994年]2/19.

アイテム

資料番号: L-93376

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射501keV. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)厚さ.

日付: [1994年]2/19.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93377. Ni, He ion照射502keV, 50nA, BF, 100K., [1994年]2/19.

アイテム

資料番号: L-93377

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射502keV. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]2/19.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93378. Ni, He ion照射503keV, 50nA, BF, 100K., [1994年]2/19.

アイテム

資料番号: L-93378

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射503keV. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)二本はすし.

日付: [1994年]2/19.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93379. Ni, He ion照射504keV, 50nA, DF, 100K., [1994年]2/19.

アイテム

資料番号: L-93379

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射504keV. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/19.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93380. Ni, He ion照射505keV, 50nA, DF, 100K., [1994年]2/19.

アイテム

資料番号: L-93380

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射505keV. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)欠陥ではない？.

日付: [1994年]2/19.

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93770. Ni, JMTR, 200℃, DF, 100K., [19]'94/3/23 (水),

アイテム

資料番号: L-93770

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)日付元記載「'94/3/23 (水)」. 実験者元記載「by 小笠原」.

日付: [19]'94/3/23 (水),

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93771. Ni, JMTR, 200℃, DF, 100K., [19]'94/3/23 (水),

アイテム

資料番号: L-93771

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [19]'94/3/23 (水),

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93772. Ni, JMTR, 200℃, DF, 50K., [19]'94/3/23 (水),

アイテム

資料番号: L-93772

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [19]'94/3/23 (水),

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93773. Ni, JMTR, 200℃, BF, 50K., [19]'94/3/23 (水),

アイテム

資料番号: L-93773

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]'94/3/23 (水),

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93774. Ni, JMTR, 200℃, DF, 200K., [19]'94/3/23 (水),

アイテム

資料番号: L-93774

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'94/3/23 (水),

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93775. Ni, JMTR, 200℃, DF, 100K., [19]'94/3/23 (水),

アイテム

資料番号: L-93775

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [19]'94/3/23 (水),

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93776. Ni, JMTR, 200℃, DF, 50K., [19]'94/3/23 (水),

アイテム

資料番号: L-93776

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [19]'94/3/23 (水),

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93777. Ni, JMTR, 200℃, DF, 200K., [19]'94/3/23 (水),

アイテム

資料番号: L-93777

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [19]'94/3/23 (水),

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93778. Ni, JMTR, 200℃, DF, 100K., [19]'94/3/23 (水),

アイテム

資料番号: L-93778

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [19]'94/3/23 (水),

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93779. Ni, JMTR, 200℃, DF, 50K., [19]'94/3/23 (水),

アイテム

資料番号: L-93779

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [19]'94/3/23 (水),

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93780. Ni, JMTR, 200℃, DF, 50K., [19]'94/3/23 (水),

アイテム

資料番号: L-93780

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'94/3/23 (水),

見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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