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銅

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件名：ソース: Ku Peek

7814 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28297. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 80K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28297
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)thinner.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28298. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 80K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28298
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)mid.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28299. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 80K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28299
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)mid.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28300. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 80K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28300
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)thicker.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28301. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 80K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28301
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)thicker.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28302. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 21K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28302
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)全景.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28303. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28303
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28304. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28304
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28305. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28305
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28306. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28306
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28307. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28307
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28308. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28308
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28309. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 16K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28309
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28310. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 21K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28310
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)near GB.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28311. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28311
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28312. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28312
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)GBから離れる.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28313. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28313
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)GBから離れる.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28314. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28314
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)同Grain.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28315. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28315
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小(conventional).

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28316. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28316
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28317. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28317
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28318. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28318
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28319. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28319
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28320. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28320
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28321. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28321
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)すぐ隣.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28322. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28322
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28323. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28323
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

(備考)絞りぬくときに場所動き位置が分からなくなる。.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28324. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28324
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28325. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 21K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28325
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)GB.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28326. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 21K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28326
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)Grain中央.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28327. pure Cu, A771, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 11K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28327
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A771. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)GB この試料おわり.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28328. pureCu, JMTR, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28328
範囲と内容

(試料)pureCu. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Johnson-Matthey Chemicals.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28329. pureCu, JMTR, BF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28329
範囲と内容

(試料)pureCu. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28330. pureCu, JMTR, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28330
範囲と内容

(試料)pureCu. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28331. pureCu, JMTR, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28331
範囲と内容

(試料)pureCu. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28332. pureCu, JMTR, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28332
範囲と内容

(試料)pureCu. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28333. pureCu, JMTR, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28333
範囲と内容

(試料)pureCu. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28334. pureCu, JMTR, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28334
範囲と内容

(試料)pureCu. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28335. pureCu, JMTR, BF, 16K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28335
範囲と内容

(試料)pureCu. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28336. pureCu, JMTR, DF, 16K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28336
範囲と内容

(試料)pureCu. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28337. pureCu, JMTR, BF, 16K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28337
範囲と内容

(試料)pureCu. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)近く.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28338. pureCu, JMTR, DF, 16K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28338
範囲と内容

(試料)pureCu. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)近く.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28339. pureCu, JMTR, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28339
範囲と内容

(試料)pureCu. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28340. pureCu, JMTR, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28340
範囲と内容

(試料)pureCu. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28341. pureCu, JMTR, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28341
範囲と内容

(試料)pureCu. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)隣.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28342. pureCu, JMTR, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28342
範囲と内容

(試料)pureCu. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28343. pureCu, JMTR, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28343
範囲と内容

(試料)pureCu. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28344. pureCu, JMTR, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28344
範囲と内容

(試料)pureCu. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)歪のためすぐ隣の視野.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28345. pureCu, JMTR, BF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28345
範囲と内容

(試料)pureCu. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28346. pureCu, JMTR, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28346
範囲と内容

(試料)pureCu. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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