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銅

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件名：ソース: Ku Peek

7814 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29977. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29977
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29978. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 16K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29978
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29979. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 16K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29979
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29980. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 16K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29980
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29981. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 16K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29981
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29982. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29982
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)79-＞80とは逆へ79より.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29983. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29983
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)79-＞80とは逆へ79より.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29984. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 16K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29984
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29985. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, BF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29985
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29986. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29986
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29987. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29987
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29988. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 42K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29988
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29989. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29989
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29990. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29990
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)隣.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29991. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29991
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)さらに.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29992. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29992
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)さらに　大絞り.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29993. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29993
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29994. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29994
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Dislない部分.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29995. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, BF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29995
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29996. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29996
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29997. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29997
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29998. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S, BF., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29998
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)かなり厚い部分　別のgrain.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29999. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-29999
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)やや厚い部分　別のgrain.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30000. Cu, A719, RTNS-II, 200℃, S., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30000
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A719. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)やや厚い部分　別のgrain.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30001. Cu, A776, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30001
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A776. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30002. Cu, A776, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30002
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A776. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30003. Cu, A776, RTNS-II, 200℃, S, BF, 21K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30003
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A776. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30004. Cu, A776, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30004
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A776. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30005. Cu, A776, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30005
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A776. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30006. Cu, A776, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30006
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A776. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30007. Cu, A776, RTNS-II, 200℃, S, DF, 21K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30007
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A776. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30008. Cu, A776, RTNS-II, 200℃, S, BF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30008
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A776. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30009. Cu, A776, RTNS-II, 200℃, S, BF, 21K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30009
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A776. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30010. Cu, A776, RTNS-II, 200℃, S, BF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30010
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A776. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

(備考)Void？.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30011. Cu, A776, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30011
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A776. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30012. Cu, A776, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30012
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A776. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30013. Cu, A776, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30013
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A776. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30014. Cu, A742, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30014
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30015. Cu, A742, RTNS-II, 450℃, M, DF, 21K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30015
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30016. Cu, A742, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30016
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30017. Cu, A742, RTNS-II, 450℃, M, DF, 21K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30017
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30018. Cu, A742, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30018
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30019. Cu, A742, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30019
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30020. Cu, A742, RTNS-II, 450℃, M, ED., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30020
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30021. Cu, A742, RTNS-II, 450℃, M, DF, 42K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30021
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30022. Cu, A742, RTNS-II, 450℃, M, BF, 42K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30022
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30023. Cu, A742, RTNS-II, 450℃, M, DF, 42K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30023
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30024. Cu, A742, RTNS-II, 450℃, M, DF, 42K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30024
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30025. Cu, A742, RTNS-II, 450℃, M, DF, 42K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30025
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30026. Cu, A742, RTNS-II, 450℃, M, ED., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30026
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A742. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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