メインコンテンツへスキップ

銅

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek

7814 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37172. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37172
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　　ｓｔ.1　-1.50（0）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37173. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37173
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37174. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37174
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37175. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37175
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37176. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37176
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　傾き同じ.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37177. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37177
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37178. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37178
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37179. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37179
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)C　　st.2　-5赤6.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37180. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37180
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37181. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37181
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B?.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37182. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37182
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37183. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37183
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37184. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37184
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)st.2　1　隣dislocaionなし　.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37185. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, DF, 42K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37185
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)HVEM用　A　　st.1　-2.5赤18（100）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37186. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, DF, 42K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37186
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37187. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, BF, 42K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37187
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37188. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, BF, 42K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37188
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37189. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, DF, 42K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37189
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37190. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, DF, 42K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37190
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)内部.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37191. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37191
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37192. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, BF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37192
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37193. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37193
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37194. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, DF, 42K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37194
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A　　st.2　-10.5赤13（210）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37195. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, BF, 42K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37195
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37196. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, BF, 42K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37196
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37197. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, DF, 80K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37197
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37198. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37198
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37199. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37199
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　st.1の隣.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37200. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37200
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37202. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37202
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)　st.1　-2.5黒12（200）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37203. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37203
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37204. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37204
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37205. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37205
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37206. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37206
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37207. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37207
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37208. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37208
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37209. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37209
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37210. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, BF., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37210
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37211. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, BF., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37211
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37212. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, BF., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37212
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37213. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, BF., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37213
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37214. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, BF., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37214
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37215. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, BF., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37215
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37216. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, BF., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37216
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37217. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, BF., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37217
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37218. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, BF., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37218
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37219. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, BF., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37219
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37220. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, BF., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37220
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37221. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, BF., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37221
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37222. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, BF., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37222
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ