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件名：ソース: Ku Peek

7814 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83271. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83271
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)H-1　B'.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83272. Cu, Cuイオン照射60,90keV, BF., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83272
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83273. Cu, Cuイオン照射60,90keV, BF., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83273
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83274. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83274
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)I-1　A.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83275. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83275
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)I-1　B.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83276. Cu, Cuイオン照射60,90keV, ED., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83276
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83277. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83277
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)I-1　A’.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83278. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83278
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)I-1　B'.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83279. Cu, Cuイオン照射60,90keV, BF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83279
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)I-1　A.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83280. Cu, Cuイオン照射60,90keV, BF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83280
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)I-1　B'.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83281. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83281
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)J-1.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83282. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 50K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83282
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)J-1.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83283. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83283
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)J-2.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83284. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 50K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83284
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)J-2.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83285. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83285
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)J-3.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83286. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83286
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)K-1　A.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83287. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83287
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)K-1　B.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83288. Cu, Cuイオン照射60,90keV, ED., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83288
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83289. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83289
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)K-1　A’.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83290. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83290
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)K-1　B'.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83291. Cu, Cuイオン照射60,90keV, BF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83291
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)K-1　A.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83292. Cu, Cuイオン照射60,90keV, BF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83292
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)K-1　B'.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83293. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83293
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)L-1.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83294. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 50K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83294
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)L-1.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83295. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83295
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝5.

(備考)M-1.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83296. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 50K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83296
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝5.

(備考)M-1.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83297. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83297
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)M-1.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83298. Cu, Cuイオン照射60,90keV, BF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83298
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)M-1.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83299. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83299
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)M-2.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83302. Cu, Cuイオン照射, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83302
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)写真を直:前頁の最初の3枚DF　Area　A　＋13黒18（280）.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83303. Cu, Cuイオン照射, DF., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83303
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　β.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83304. Cu, Cuイオン照射, DF., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83304
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　β.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83305. Cu, Cuイオン照射, ED., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83305
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84330. Cu, Cuイオン120keV, ED., [1992年]11/25.

 アイテム
資料番号: L-84330
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン120keV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)超高圧で照射後の観察　α＋11.5黒18（80）　Area　A. 日付元記載「11/25」.

日付: [1992年]11/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84366. Cu, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84366
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e-irrd前　α-13.5黒12-15（300）A. 日付元記載「11/26」.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84367. Cu, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84367
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　B.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84368. Cu, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84368
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　C.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84369. Cu, Cuイオン照射120keV, ED., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84369
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84370. Cu, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84370
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84371. Cu, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84371
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84372. Cu, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84372
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84373. Cu, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84373
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β-11黒6-9（160）A.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84374. Cu, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84374
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　B.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84375. Cu, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84375
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　C.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84376. Cu, Cuイオン照射120keV, ED., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84376
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84377. Cu, Cuイオン照射120keV, BF, 100K., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84377
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84378. Cu, Cuイオン照射120keV, BF, 100K., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84378
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84379. Cu, Cuイオン照射120keV, BF, 100K., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84379
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C.

日付: [1992年]11/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84380. Cu, Cuイオン照射120keV+e-irrd後, DF, 100K., [1992年]11/27.

 アイテム
資料番号: L-84380
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV＋e-irrd後. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　-14黒15-18（80）A. 日付元記載「11/27」.

日付: [1992年]11/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84381. Cu, Cuイオン照射121keV+e-irrd後, DF, 100K., [1992年]11/27.

 アイテム
資料番号: L-84381
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射121keV＋e-irrd後. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　A.

日付: [1992年]11/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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