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 主題
件名:ソース: Ku Peek

2479 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86144. Fe, B030, FFTF-MOTA, DF, 10K., [1992年7月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-86144
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)B030. (照射条件)FFTF-MOTA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s=0.

(備考)3つの1.

日付: [1992年7月26日以降.]

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86147. Fe, B030, FFTF-MOTA, BF, 10K., [1992年7月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-86147
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B030. (照射条件)FFTF-MOTA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s~0.

日付: [1992年7月26日以降.]

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86152. Fe, B030, FFTF-MOTA, DF, 10K., [1992年7月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-86152
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B030. (照射条件)FFTF-MOTA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s=0.

日付: [1992年7月26日以降.]

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86153. Fe, B030, FFTF-MOTA, DF, 10K., [1992年7月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-86153
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B030. (照射条件)FFTF-MOTA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s>0.

日付: [1992年7月26日以降.]

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86154. Fe, B030, FFTF-MOTA, DF, 25K., [1992年7月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-86154
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B030. (照射条件)FFTF-MOTA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s>0.

日付: [1992年7月26日以降.]

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86155. Fe, B030, FFTF-MOTA, DF, 25K., [1992年7月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-86155
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B030. (照射条件)FFTF-MOTA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s>0.

日付: [1992年7月26日以降.]

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86156. Fe, B030, FFTF-MOTA, DF, 25K., [1992年7月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-86156
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B030. (照射条件)FFTF-MOTA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s>0.

日付: [1992年7月26日以降.]

高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997.

 コレクション
資料番号: KURNS MIXED 2018/3
要約 高エネルギー粒子の材料照射実験は,材料に欠陥を導入する手段として,また照射下で使用される材料の特性試験として幅広く行われている。本資料は,金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行いその後に電子顕微鏡観察した結果を記録した写真のネガフィルムで,さまざまな形態の照射欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく,現在研究用等原子炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件変更により実施できなくなった実験条件で得られた,希少な照射材料の撮影結果を含む。Material irradiation experiments using high-energy particles are conducted as a means of introducing defects into the material and as a property test of the material used under irradiation. This collection consists of negative films that...
日付: 1985.1.10 〜 1997.7.26. [昭和60年〜平成9年.]; [1985-01-10/1997-07-26.]