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件名：ソース: Ku Peek

2835 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82185. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 50K., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82185
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)①-1.

日付: [1992年]7/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82186. Ag, Cuイオン照射120keV, BF, 100K., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82186
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)①-1.

日付: [1992年]7/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82187. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82187
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α＋15.7黒0（220）.

日付: [1992年]7/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82188. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 73K., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82188
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K.

(備考)β＋14.1赤6（230）.

日付: [1992年]7/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82189. Ag, Cuイオン照射120keV, ED., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82189
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Area①-1別の所.

日付: [1992年]7/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82190. Ag, Cuイオン照射120keV., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82190
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV.

日付: [1992年]7/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82191. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82191
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]7/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82192. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82192
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]7/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82193. Ag, Cuイオン照射120keV, BF, 100K., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82193
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]7/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82194. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82194
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area②.

日付: [1992年]7/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82195. Ag, Cuイオン照射120keV, ED., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82195
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]7/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82196. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82196
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area②別の所.

日付: [1992年]7/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82197. Ag, Cuイオン照射120keV, ED., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82197
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]7/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82198. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82198
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

日付: [1992年]7/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82199. Ag, Cuイオン照射120keV, ED., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82199
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

日付: [1992年]7/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82200. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82200
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area ③.

日付: [1992年]7/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82201. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82201
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area ③.

日付: [1992年]7/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82202. Ag, Cuイオン照射120keV, ED., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82202
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)Area ③.

日付: [1992年]7/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82203. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82203
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area ③.

日付: [1992年]7/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82204. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 150K., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82204
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)Area ③.

日付: [1992年]7/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82205. Ag, Cuイオン照射120keV, ED., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82205
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]7/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82206. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82206
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area④.

日付: [1992年]7/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82207. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 50K., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82207
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)Area④.

日付: [1992年]7/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82208. Ag, Cuイオン照射120keV, ED., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82208
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Area④.

日付: [1992年]7/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82209. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82209
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area④.

日付: [1992年]7/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82256. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., [1992年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-82256
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area5. 日付元記載「9/6」. 実験者元記載「三間」.

日付: [1992年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82257. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., [1992年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-82257
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)Area5.

日付: [1992年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82258. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., [1992年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-82258
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)Area6.

日付: [1992年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82259. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 50K., [1992年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-82259
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)Area6.

日付: [1992年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82260. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., [1992年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-82260
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)Area6.

日付: [1992年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82261. Ag, Cuイオン照射100keV, ED., [1992年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-82261
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Area6.

日付: [1992年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82262. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., [1992年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-82262
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)Area7.

日付: [1992年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82263. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 50K., [1992年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-82263
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)Area7.

日付: [1992年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82264. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., [1992年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-82264
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)Area7.

日付: [1992年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82265. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 150K., [1992年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-82265
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)Area7.

日付: [1992年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82266. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., [1992年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-82266
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)Area7.

日付: [1992年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82267. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., [1992年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-82267
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)Area8.

日付: [1992年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82268. Ag, Cuイオン照射100keV, BF, 100K., [1992年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-82268
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)Area8.

日付: [1992年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82269. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., [1992年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-82269
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)Area8.

日付: [1992年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82270. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., [1992年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-82270
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)Area9.

日付: [1992年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82271. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., [1992年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-82271
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)Area9.

日付: [1992年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82272. Ag, Cuイオン照射100keV, ED., [1992年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-82272
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Area9.

日付: [1992年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82273. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., [1992年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-82273
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)Area10.

日付: [1992年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82274. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., [1992年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-82274
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)Area10.

日付: [1992年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82275. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 150K., [1992年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-82275
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)Area10.

日付: [1992年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82276. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., [1992年]9/10.

 アイテム
資料番号: L-82276
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)Area11. 日付元記載「9/10」. 実験者元記載「三間」.

日付: [1992年]9/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82277. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 150K., [1992年]9/10.

 アイテム
資料番号: L-82277
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)Area11.

日付: [1992年]9/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82278. Ag, Cuイオン照射100keV, BF, 100K., [1992年]9/10.

 アイテム
資料番号: L-82278
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)ちょっとずらしてArea11.

日付: [1992年]9/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82279. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 150K., [1992年]9/10.

 アイテム
資料番号: L-82279
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)ちょっとずらしてArea11.

日付: [1992年]9/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82280. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 50K., [1992年]9/10.

 アイテム
資料番号: L-82280
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)ちょっとずらしてArea11.

日付: [1992年]9/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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