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件名：ソース: Ku Peek

2835 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82281. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., [1992年]9/10.

 アイテム
資料番号: L-82281
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)Area12.

日付: [1992年]9/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82282. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 150K., [1992年]9/10.

 アイテム
資料番号: L-82282
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)Area12.

日付: [1992年]9/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82283. Ag, Cuイオン照射100keV, BF, 100K., [1992年]9/10.

 アイテム
資料番号: L-82283
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)Area12.

日付: [1992年]9/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82284. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., [1992年]9/10.

 アイテム
資料番号: L-82284
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)Area13.

日付: [1992年]9/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82285. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., [1992年]9/10.

 アイテム
資料番号: L-82285
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)Area13.

日付: [1992年]9/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82286. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 150K., [1992年]9/10.

 アイテム
資料番号: L-82286
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)Area13.

日付: [1992年]9/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82295. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., [1992年]9/12.

 アイテム
資料番号: L-82295
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area14. 日付元記載「9/12」. 実験者元記載「三間」.

日付: [1992年]9/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82296. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., [1992年]9/12.

 アイテム
資料番号: L-82296
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area14.

日付: [1992年]9/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82297. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 150K., [1992年]9/12.

 アイテム
資料番号: L-82297
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

(備考)Area14.

日付: [1992年]9/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82298. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., [1992年]9/12.

 アイテム
資料番号: L-82298
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area14　ちょっとずらして.

日付: [1992年]9/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82299. Ag, Cuイオン照射100keV, ED., [1992年]9/12.

 アイテム
資料番号: L-82299
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Area14.

日付: [1992年]9/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82300. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., [1992年]9/12.

 アイテム
資料番号: L-82300
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area15.

日付: [1992年]9/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82443. Ag, Heイオン照射, BF, 100K., 1992. 9. 25.

 アイテム
資料番号: L-82443
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　-10.5赤1（200）. 日付元記載「1992. 9. 25」. 実験者元記載「by Kiritani w Shimozjima」.

日付: 1992. 9. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82444. Ag, Heイオン照射, DF, 100K., 1992. 9. 25.

 アイテム
資料番号: L-82444
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: 1992. 9. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82445. Ag, Heイオン照射, ED., 1992. 9. 25.

 アイテム
資料番号: L-82445
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: 1992. 9. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82446. Ag, Heイオン照射, DF, 200K., 1992. 9. 25.

 アイテム
資料番号: L-82446
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: 1992. 9. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82447. Ag, Heイオン照射, BF, 100K., 1992. 9. 25.

 アイテム
資料番号: L-82447
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β-14.0赤10（40）.

日付: 1992. 9. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82448. Ag, Heイオン照射, DF, 100K., 1992. 9. 25.

 アイテム
資料番号: L-82448
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: 1992. 9. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82449. Ag, Heイオン照射, ED., 1992. 9. 25.

 アイテム
資料番号: L-82449
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: 1992. 9. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82450. Ag, Heイオン照射, DF, 200K., 1992. 9. 25.

 アイテム
資料番号: L-82450
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: 1992. 9. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82451. Ag, Heイオン照射, DF, 100K., 1992. 9. 25.

 アイテム
資料番号: L-82451
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: 1992. 9. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82481. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 100K., [1992年]9/28.

 アイテム
資料番号: L-82481
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「9/28」.

日付: [1992年]9/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82482. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 100K., [1992年]9/28.

 アイテム
資料番号: L-82482
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]9/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82483. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 100K., [1992年]9/28.

 アイテム
資料番号: L-82483
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)1つはずし.

日付: [1992年]9/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82484. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 100K., [1992年]9/28.

 アイテム
資料番号: L-82484
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)2つはずし.

日付: [1992年]9/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82485. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 100K., [1992年]9/28.

 アイテム
資料番号: L-82485
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)2つはずし.

日付: [1992年]9/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82486. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 100K., [1992年]9/28.

 アイテム
資料番号: L-82486
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3つはずし.

日付: [1992年]9/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82487. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 100K., [1992年]9/28.

 アイテム
資料番号: L-82487
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3つはずし.

日付: [1992年]9/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82488. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 100K., [1992年]9/28.

 アイテム
資料番号: L-82488
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α-2.5黒0-3（280）A.

日付: [1992年]9/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82489. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 100K., [1992年]9/28.

 アイテム
資料番号: L-82489
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)αB.

日付: [1992年]9/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82490. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 50K., [1992年]9/28.

 アイテム
資料番号: L-82490
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)αA.

日付: [1992年]9/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82491. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, Bf, 50K., [1992年]9/28.

 アイテム
資料番号: L-82491
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)Bf. (条件・倍率等)50K.

(備考)αB.

日付: [1992年]9/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82492. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, ED., [1992年]9/28.

 アイテム
資料番号: L-82492
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]9/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82493. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, BF, 50K., [1992年]9/28.

 アイテム
資料番号: L-82493
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)αA.

日付: [1992年]9/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82494. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, BF, 50K., [1992年]9/28.

 アイテム
資料番号: L-82494
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)αB.

日付: [1992年]9/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82495. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 100K., [1992年]9/28.

 アイテム
資料番号: L-82495
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β-1黒15-18（220）A.

日付: [1992年]9/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82496. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 100K., [1992年]9/28.

 アイテム
資料番号: L-82496
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　B.

日付: [1992年]9/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82497. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 50K., [1992年]9/28.

 アイテム
資料番号: L-82497
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　A.

日付: [1992年]9/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82498. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 50K., [1992年]9/28.

 アイテム
資料番号: L-82498
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　B.

日付: [1992年]9/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82499. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, ED., [1992年]9/28.

 アイテム
資料番号: L-82499
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]9/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82500. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 100K., [1992年]9/28.

 アイテム
資料番号: L-82500
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)γ-1.5黒9-12（260）A.

日付: [1992年]9/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82501. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 100K., [1992年]9/28.

 アイテム
資料番号: L-82501
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)γ　B.

日付: [1992年]9/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82502. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 50K., [1992年]9/28.

 アイテム
資料番号: L-82502
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)γ　A.

日付: [1992年]9/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82503. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 50K., [1992年]9/28.

 アイテム
資料番号: L-82503
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)γ　B.

日付: [1992年]9/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82504. Ag, Heイオン照射, 一番弱い, DF, 50K., [1992年]9/28.

 アイテム
資料番号: L-82504
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)A.

日付: [1992年]9/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82505. Ag, Heイオン照射, 一番弱い., [1992年]9/28

 アイテム
資料番号: L-82505
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)一番弱い.

(備考)B.

日付: [1992年]9/28
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82669. Ag, Heイオン照射, DF, 100K., [1992年]10/26.

 アイテム
資料番号: L-82669
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　-15赤12（0）A. 日付元記載「10/26」.

日付: [1992年]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82670. Ag, Heイオン照射, DF, 100K., [1992年]10/26.

 アイテム
資料番号: L-82670
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　A　.

日付: [1992年]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82671. Ag, Heイオン照射, DF, 50K., [1992年]10/26.

 アイテム
資料番号: L-82671
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　A　.

日付: [1992年]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82672. Ag, Heイオン照射, DF, 100K., [1992年]10/26.

 アイテム
資料番号: L-82672
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　B.

日付: [1992年]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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