銀 | KURRA資料検索サービス

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85542. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年2月27日.]

アイテム

資料番号: L-85542

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-10.0赤18（175）area　3. 実験者元記載「三間」.

日付: [1993年2月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85543. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年2月27日.]

アイテム

資料番号: L-85543

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　area　3.

日付: [1993年2月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85544. Ag, Cuイオン照射, 400℃, ED., [1993年2月27日.]

アイテム

資料番号: L-85544

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　area　3.

日付: [1993年2月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85545. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年2月27日.]

アイテム

資料番号: L-85545

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-6.0赤10（338）　area　3.

日付: [1993年2月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85546. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年2月27日.]

アイテム

資料番号: L-85546

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　area　3.

日付: [1993年2月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85547. Ag, Cuイオン照射, 400℃, ED., [1993年2月27日.]

アイテム

資料番号: L-85547

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　area　3.

日付: [1993年2月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85548. Ag, Cuイオン照射, 400℃, BF, 50K., [1993年2月27日.]

アイテム

資料番号: L-85548

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　.

日付: [1993年2月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85549. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85549

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　＋7黒0-3（300）A. 日付元記載「12/28」.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85550. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85550

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　A.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85551. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85551

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　B.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85552. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85552

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　B.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85553. Ag, Heイオン照射1MeV, ED., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85553

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85554. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85554

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85555. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85555

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85556. Ag, Heイオン照射1MeV, BF, 50K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85556

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85557. Ag, Heイオン照射1MeV, BF, 50K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85557

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85558. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85558

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　＋17黒9（0）.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85559. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85559

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85560. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85560

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85561. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85561

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85562. Ag, Heイオン照射1MeV, ED., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85562

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85563. Ag, Heイオン照射1MeV, BF, 50K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85563

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85564. Ag, Heイオン照射1MeV, BF, 50K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85564

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85565. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 150K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85565

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　＋17.黒9（0）.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85566. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85566

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85567. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85567

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85568. Ag, Heイオン照射1MeV., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85568

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV.

(備考)失敗.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85869. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, 100., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85869

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)100.

(備考)1st　obs.　For map. 日付元記載「1/19」. 実験者元記載「三間」.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85870. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, 100., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85870

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)100.

(備考)For map.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85871. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, 100., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85871

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)100.

(備考)For map.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85872. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, DF, 50K., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85872

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)dummy部.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85873. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, DF, 50K., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85873

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area 4 α　-20.0黒8（335）.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85874. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, DF, 50K., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85874

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85875. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, ED., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85875

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85876. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, DF, 50K., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85876

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-12.5黒3（224）.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85877. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, DF, 50K., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85877

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85878. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, BF, 50K., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85878

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85879. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, DF, 50K., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85879

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area　5　α　＋9.4赤6（177）.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85880. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, DF, 50K., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85880

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85881. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, ED., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85881

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85882. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, DF, 50K., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85882

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋12.0赤01　100.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85883. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, DF, 50K., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85883

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85884. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, DF, 50K., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85884

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85885. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 73K., [1993年1月19日.]

アイテム

資料番号: L-85885

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K.

(備考)5th　obs.　Area　6　α　-5.0赤2（182）. 実験者元記載「三間」.

日付: [1993年1月19日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85886. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1993年1月19日.]

アイテム

資料番号: L-85886

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1993年1月19日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85887. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, ED., [1993年1月19日.]

アイテム

資料番号: L-85887

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1993年1月19日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85888. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 73K., [1993年1月19日.]

アイテム

資料番号: L-85888

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K.

(備考)β　＋5.0赤3（240）.

日付: [1993年1月19日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85889. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1993年1月19日.]

アイテム

資料番号: L-85889

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1993年1月19日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85890. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, BF, 50K., [1993年1月19日.]

アイテム

資料番号: L-85890

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1993年1月19日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85891. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1993年1月19日.]

アイテム

資料番号: L-85891

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Area　7　α＋12.60（260）.

日付: [1993年1月19日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

銀

2835 コレクションおよび/またはレコード 表示:

もっと詳しく '銀'

追加の絞り込み:

2835 コレクションおよび/またはレコード表示: