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件名：ソース: Ku Peek

2835 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87963. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃＆RT, 100sec, DF, 100K., [1993年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-87963
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃＆RT. (照射量)100sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area 2.

日付: [1993年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87964. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃＆RT, 1000sec, DF, 100K., [1993年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-87964
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃＆RT. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area　3.

日付: [1993年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87965. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃＆RT, 1000sec, DF, 100K., [1993年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-87965
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃＆RT. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area　3.

日付: [1993年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87966. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃＆RT, 1000sec, DF, 100K., [1993年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-87966
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃＆RT. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area　4.

日付: [1993年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87967. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃＆RT, 1000sec, DF, 100K., [1993年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-87967
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃＆RT. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area　4.

日付: [1993年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87968. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃＆RT, 30sec, DF, 50K., [1993年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-87968
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃＆RT. (照射量)30sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area　5.

日付: [1993年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87969. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃＆RT, 30sec, DF, 50K., [1993年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-87969
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃＆RT. (照射量)30sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area　5.

日付: [1993年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87970. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃＆RT, 30sec, DF, 100K., [1993年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-87970
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃＆RT. (照射量)30sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area　5.

日付: [1993年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87971. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃＆RT, DF, 100K., [1993年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-87971
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃＆RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area　6.

日付: [1993年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87972. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃＆RT, 10sec, DF, 50K., [1993年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-87972
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃＆RT. (照射量)10sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area　7.

日付: [1993年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87973. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃＆RT, 10sec, DF, 50K., [1993年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-87973
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃＆RT. (照射量)10sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area　7.

日付: [1993年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87974. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃＆RT, 10sec, DF, 100K., [1993年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-87974
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃＆RT. (照射量)10sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area　7.

日付: [1993年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87975. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃＆RT, 100sec, DF, 100K., [1993年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-87975
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃＆RT. (照射量)100sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area　8.

日付: [1993年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87976. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃＆RT, 100sec, DF, 100K., [1993年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-87976
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃＆RT. (照射量)100sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area　8.

日付: [1993年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87977. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃＆RT, 30sec, DF, 50K., [1993年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-87977
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃＆RT. (照射量)30sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area　9.

日付: [1993年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87978. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃＆RT, 30sec, DF, 50K., [1993年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-87978
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃＆RT. (照射量)30sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area　9.

日付: [1993年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87979. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃＆RT, 30sec, DF, 100K., [1993年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-87979
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃＆RT. (照射量)30sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area　9.

日付: [1993年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87980. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃＆RT, 1000sec, DF, 100K., [1993年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-87980
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃＆RT. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area　10.

日付: [1993年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87981. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃＆RT, 1000sec, DF, 100K., [1993年]6/16.

 アイテム
資料番号: L-87981
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃＆RT. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area　10.

日付: [1993年]6/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88262. Ag, LAMPF, DF, 100K., [1993年6月29日.]

 アイテム
資料番号: L-88262
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)just. 実験者元記載「Kiritani」.

日付: [1993年6月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88263. Ag, LAMPF, DF., [1993年6月29日.]

 アイテム
資料番号: L-88263
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)over　2　step.

日付: [1993年6月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88264. Ag, LAMPF, DF., [1993年6月29日.]

 アイテム
資料番号: L-88264
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)over　4　step.

日付: [1993年6月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88265. Ag, LAMPF, DF., [1993年6月29日.]

 アイテム
資料番号: L-88265
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)under　2　step.

日付: [1993年6月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88266. Ag, LAMPF, DF., [1993年6月29日.]

 アイテム
資料番号: L-88266
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)under　4　step.

日付: [1993年6月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88267. Ag, LAMPF, ED., [1993年6月29日.]

 アイテム
資料番号: L-88267
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年6月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88268. Ag, LAMPF, DF, 100K., [1993年6月29日.]

 アイテム
資料番号: L-88268
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-1.3黒5.5（140）.

日付: [1993年6月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88269. Ag, LAMPF, DF., [1993年6月29日.]

 アイテム
資料番号: L-88269
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1993年6月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88270. Ag, LAMPF, BF., [1993年6月29日.]

 アイテム
資料番号: L-88270
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1993年6月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88271. Ag, LAMPF, ED., [1993年6月29日.]

 アイテム
資料番号: L-88271
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1993年6月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88272. Ag, LAMPF, DF., [1993年6月29日.]

 アイテム
資料番号: L-88272
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋5.0赤5.5（0）.

日付: [1993年6月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88273. Ag, LAMPF, BF., [1993年6月29日.]

 アイテム
資料番号: L-88273
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年6月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88274. Ag, LAMPF, DF., [1993年6月29日.]

 アイテム
資料番号: L-88274
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)γ.

日付: [1993年6月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88275. Ag, LAMPF, BF., [1993年6月29日.]

 アイテム
資料番号: L-88275
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: [1993年6月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88276. Ag, LAMPF, DF, 100K., [1993年6月29日.]

 アイテム
資料番号: L-88276
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)δ　＋1.2黒0.5（0）.

日付: [1993年6月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88277. Ag, LAMPF, ED., [1993年6月29日.]

 アイテム
資料番号: L-88277
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)δ.

日付: [1993年6月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88278. Ag, LAMPF, DF., [1993年6月29日.]

 アイテム
資料番号: L-88278
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)δ.

日付: [1993年6月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88279. Ag, LAMPF, BF., [1993年6月29日.]

 アイテム
資料番号: L-88279
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)δ.

日付: [1993年6月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88280. Ag, LAMPF, DF., [1993年6月29日.]

 アイテム
資料番号: L-88280
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)ε　-9.0赤5.5（60）.

日付: [1993年6月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88281. Ag, LAMPF, ED., [1993年6月29日.]

 アイテム
資料番号: L-88281
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ε.

日付: [1993年6月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88282. Ag, LAMPF, BF., [1993年6月29日.]

 アイテム
資料番号: L-88282
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)ε.

日付: [1993年6月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88283. Ag, LAMPF, DF, 320K., [1993年6月29日.]

 アイテム
資料番号: L-88283
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)320K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年6月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88459. Ag, Cuイオン100keV, 200℃＆RT, DF, 100K., [1993年]7/9.

 アイテム
資料番号: L-88459
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン100keV. (照射温度)200℃＆RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)g＝5.

(備考)3rd　obs.　α　0黒6（120）A. 日付元記載「7/9」. 実験者元記載「三間」.

日付: [1993年]7/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88460. Ag, Cuイオン100keV, 200℃＆RT, DF, 100K., [1993年]7/9.

 アイテム
資料番号: L-88460
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン100keV. (照射温度)200℃＆RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)g＝5.

(備考)α　B.

日付: [1993年]7/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88461. Ag, Cuイオン100keV, 200℃＆RT, DF, 100K., [1993年]7/9.

 アイテム
資料番号: L-88461
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン100keV. (照射温度)200℃＆RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)g＝5.

(備考)α　C.

日付: [1993年]7/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88462. Ag, Cuイオン100keV, 200℃＆RT, ED., [1993年]7/9.

 アイテム
資料番号: L-88462
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン100keV. (照射温度)200℃＆RT. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1993年]7/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88463. Ag, Cuイオン100keV, 200℃＆RT, DF, 100K., [1993年]7/9.

 アイテム
資料番号: L-88463
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン100keV. (照射温度)200℃＆RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)g＝5.

(備考)β　-6黒13（170）　A.

日付: [1993年]7/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88464. Ag, Cuイオン100keV, 200℃＆RT, DF, 100K., [1993年]7/9.

 アイテム
資料番号: L-88464
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン100keV. (照射温度)200℃＆RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)g＝5.

(備考)β　B.

日付: [1993年]7/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88465. Ag, Cuイオン100keV, 200℃＆RT, DF, 100K., [1993年]7/9.

 アイテム
資料番号: L-88465
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン100keV. (照射温度)200℃＆RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)g＝5.

(備考)β　C.

日付: [1993年]7/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88466. Ag, Cuイオン100keV, 200℃＆RT, DF, 100K., [1993年]7/9.

 アイテム
資料番号: L-88466
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン100keV. (照射温度)200℃＆RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)g＝5.

(備考)α　-4黒2（65）　A.

日付: [1993年]7/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88467. Ag, Cuイオン100keV, 200℃＆RT, DF, 100K., [1993年]7/9.

 アイテム
資料番号: L-88467
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン100keV. (照射温度)200℃＆RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)g＝5.

(備考)α　B.

日付: [1993年]7/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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