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件名：ソース: Ku Peek

2835 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45091. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45091
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45092. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45092
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200↑.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45093. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45093
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)111↓.

(備考)45098まであの中心のみIll.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45094. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45094
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45095. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45095
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45096. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45096
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45097. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45097
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45098. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45098
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45099. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45099
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A γ　-1.0黒10.5（140）.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45100. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45100
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　γ　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45101. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45101
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C　γ　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45102. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45102
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45103. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45103
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　γ　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45104. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45104
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　γ　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45105. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45105
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　γ　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45106. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45106
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45107. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45107
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)2・1/2法　　Area　C　γ　Just.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45108. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45108
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Just　3.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45109. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45109
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Just　6.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45110. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45110
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Just　3.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45111. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45111
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Just　6.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45112. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45112
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45113. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45113
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

(備考)やり直し.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45114. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45114
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45115. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45115
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45116. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45116
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＞.

(備考)A　δ　＋1.8赤11（220）.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45117. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45117
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

(備考)B　δ.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45118. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45118
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

(備考)C　δ.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45119. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45119
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45120. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45120
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)βの誓うに戻って　＋15.2黒4（320）.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45121. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45121
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45122. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45122
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45123. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45123
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45124. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, LM., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45124
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (条件・倍率等)LM.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45224. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45224
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)縦入射　Annealing　Exp. A　α　＋13.赤4（180）.

日付: [1987年7月22日.]
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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45225. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45225
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　α .

日付: [1987年7月22日.]
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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45226. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DE., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45226
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DE.

(備考)B　α .

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45227. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45227
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B　α .

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45228. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45228
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　α .

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45229. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45229
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)C　α .

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45230. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45230
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　β　＋4.2赤7Z(60) .

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45231. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45231
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　β .

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45232. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45232
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　β .

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45233. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45233
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)C　β.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45234. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45234
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)D　β.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45235. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45235
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　50℃(0.74mV）25min～35min.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45236. Ag, R671, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45236
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

(備考)B.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45237. Ag, R671, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45237
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

(備考)C.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45238. Ag, R671, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45238
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

(備考)D　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45239. Ag, R671, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45239
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

(備考)A　　75℃(1.15mV)25min～33min.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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