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件名：ソース: Ku Peek

2785 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41427. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41427
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41428. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41428
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41429. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41429
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41430. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41430
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41431. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41431
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41432. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41432
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)↓　増加.

(備考)↓.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41433. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41433
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)↓.

(備考)↓.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41434. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41434
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)↑ 220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41435. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41435
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)111.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41436. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41436
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)↓.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41437. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41437
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)↓.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41438. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41438
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)↑　111.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41439. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41439
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41440. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41440
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41441. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41441
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41442. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41442
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41443. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41443
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41444. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41444
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.5.

(備考)2°傾ける.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41445. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41445
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41446. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41446
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41447. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41447
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41448. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41448
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41449. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41449
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41450. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41450
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41451. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41451
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41452. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41452
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)ある程度いる.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41453. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41453
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41454. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41454
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41455. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41455
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41456. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41456
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41457. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41457
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41458. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41458
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41459. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41459
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)1°傾ける.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41460. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 200K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41460
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)ここまで200.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41461. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41461
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41462. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41462
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41463. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41463
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41464. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41464
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)111.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41465. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41465
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)111.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41466. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41466
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)111.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41467. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41467
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41468. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41468
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41469. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41469
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41470. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41470
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41471. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41471
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41472. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41472
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41473. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41473
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41474. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41474
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41475. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41475
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41476. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41476
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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