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件名：ソース: Ku Peek

2785 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41477. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41477
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41478. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41478
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41479. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41479
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)1°ずらす.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41480. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41480
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41481. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41481
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

(備考)あるかもしれない.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41482. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41482
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41483. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41483
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41484. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41484
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41485. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41485
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41486. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41486
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41487. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41487
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41488. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41488
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

(備考)200.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41489. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41489
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)200.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41490. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41490
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞3.5.

(備考)200.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41491. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41491
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41492. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41492
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

(備考)220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41493. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41493
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41494. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41494
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

(備考)111.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41495. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41495
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

(備考)111.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41496. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41496
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

(備考)111.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41497. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41497
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41498. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41498
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41499. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41499
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41500. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41500
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41501. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41501
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41502. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41502
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)1°.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41503. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41503
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41504. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41504
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41505. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41505
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41506. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41506
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41507. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41507
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41508. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41508
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)1°.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41509. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41509
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41510. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41510
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41511. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, DF, 270K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41511
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)270K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41512. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41512
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41513. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41513
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41514. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41514
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41515. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41515
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)110.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41516. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41516
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)110.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41517. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41517
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)110.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41518. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41518
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41519. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41519
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41520. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41520
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41521. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41521
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41522. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41522
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41523. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41523
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)1°.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41524. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41524
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41525. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41525
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41526. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41526
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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